ASTM E1479-99
感應(yīng)耦合等離子體光學(xué)放射分光計的描述與規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程

Standard Practice for Describing and Specifying Inductively-Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometers

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號

ASTM E1479-99

發(fā)布

1999年

發(fā)布單位

美國材料與試驗協(xié)會

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E1479-99(2005)

當(dāng)前最新

ASTM E1479-24

 

 

適用范圍

1.1 本實踐描述了電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀的組成部分，這些組成部分是其操作和性能質(zhì)量的基礎(chǔ)。本實踐的目的不是指定組件公差或性能標(biāo)準(zhǔn)，因為這些對于每個儀器來說都是唯一的。然而，實踐確實試圖確定影響準(zhǔn)確性、精確度和靈敏度的關(guān)鍵因素。潛在用戶應(yīng)在下訂單前咨詢供應(yīng)商，設(shè)計測試協(xié)議以證明儀器滿足所有預(yù)期需求。有關(guān)更多詳細(xì)信息，請參閱 Haas、Knisely、Winge 和 Fassel 出版的出版物。
1.2 本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵嵺`并確定監(jiān)管限制的適用性。具體的安全危險說明在第 9 節(jié)中給出。

專題

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