ASTM B487-20
通過橫截面顯微鏡檢查測量金屬和氧化物涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of Cross Section
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- ASTM B487-20
- 發(fā)布
- 2020年
- 總頁數(shù)
- 5頁
- 發(fā)布單位
- 美國材料與試驗協(xié)會
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM B487-24
- 當(dāng)前最新
- ASTM B487-24
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E3
- 本體
- 光學(xué)顯微鏡 金屬
- 適用范圍
- 1.1 本測試方法涵蓋通過使用光學(xué)顯微鏡對橫截面進行顯微檢查來測量金屬和氧化物涂層的局部厚度。
1.2 在良好條件下，使用光學(xué)顯微鏡時，該方法能夠給出0.8 μm的絕對測量精度。準(zhǔn)確度將決定薄涂層厚度測量方法的適用性。準(zhǔn)確性取決于顯微鏡的設(shè)置和樣品的制備； 0.8 μm 不應(yīng)被視為絕對值，而應(yīng)作為指導(dǎo)值。
1.2.1 光學(xué)顯微鏡可以使用數(shù)字圖像捕獲設(shè)備和軟件來評估這些圖像。
1.3 本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任建立適當(dāng)?shù)陌踩?、健康和環(huán)境實踐，并在使用前確定監(jiān)管限制的適用性。 （這尤其適用于表 X2.1 中引用的化學(xué)品。） 1.4 本國際標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)世界發(fā)布的《關(guān)于制定國際標(biāo)準(zhǔn)、指南和建議的原則的決定》中確立的國際公認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)化原則制定的。貿(mào)易組織貿(mào)易技術(shù)壁壘 (TBT) 委員會。
ASTM B487-20 中提到的儀器設(shè)備
| 光學(xué)顯微鏡 | 用于測量金屬和氧化涂層局部厚度的關(guān)鍵設(shè)備 |
| 數(shù)碼圖像捕捉裝置及軟件 | 配合光學(xué)顯微鏡使用，提高截面分析的精確性 |