DIN ISO 15472 E:2019-09
表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀 能標(biāo)校準(zhǔn)
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectrometers - Calibration of energy scales
2020-05
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- DIN ISO 15472 E:2019-09
- 發(fā)布
- 2019年
- 總頁(yè)數(shù)
- 35頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 15472:2020
- 當(dāng)前最新
- DIN ISO 15472:2020-05
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 18115-1
- 本體
- X射線光電子能譜儀
- 適用范圍
- 本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一種方法，用于校準(zhǔn)X射線光電子能譜儀的束縛能刻度，適用于一般分析目的，使用未單色化的Al或Mg X射線或單色化的Al X射線。本標(biāo)準(zhǔn)僅適用于配備離子槍進(jìn)行濺射清潔的儀器。本標(biāo)準(zhǔn)還規(guī)定了一種方法來(lái)建立校準(zhǔn)計(jì)劃，測(cè)試一個(gè)中間能量的束縛能刻度線性度，確認(rèn)一個(gè)低和一個(gè)高束縛能值的刻度校準(zhǔn)不確定性，校正該刻度的微小漂移，并定義束縛能刻度校準(zhǔn)的擴(kuò)展不確定性，置信水平為95%。此不確定性包括實(shí)驗(yàn)室間研究中觀察到的行為貢獻(xiàn)，但不涵蓋所有可能出現(xiàn)的缺陷。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于束縛能刻度誤差顯著非線性的儀器，減速比小于10的恒定減速比模式下操作的儀器，光譜儀分辨率差于1.5 eV的儀器，或需要公差限在±0.03 eV或更小的儀器。本標(biāo)準(zhǔn)不提供完整的校準(zhǔn)檢查，后者將確認(rèn)能量刻度上每個(gè)可尋址點(diǎn)測(cè)量的能量，并必須按照制造商的推薦程序執(zhí)行。
DIN ISO 15472 E:2019-09 中提到的儀器設(shè)備
| X射線光電子能譜儀 未指定 | 用于測(cè)量材料表面元素組成和化學(xué)狀態(tài)的儀器。 |