BS ISO 18117:2009(2015)
表面化學分析——分析前樣品的處理
Surface chemical analysis — Handling of specimens prior to analysis
- 標準號
- BS ISO 18117:2009(2015)
- 發(fā)布
- 2015年
- 總頁數(shù)
- 20頁
- 發(fā)布單位
- 英國標準學會
- 當前最新
- BS ISO 18117:2009(2015)
- 引用標準
- ISO 18115
- 本體
- 樣品處理 樣品容器 表面化學分析
- 適用范圍
- 本國際標準提供了提交用于表面化學分析的樣品處理和容器的指南。旨在幫助表面分析服務的用戶理解表面化學分析技術（特別是俄歇電子能譜（AES）、二次離子質譜（SIMS）和X射線光電子能譜（XPS或ESCA））的特殊樣品處理要求。所提出的協(xié)議也可能適用于其他對表面成分敏感的分析技術，如TXRF。在特定情況下，可能需要采取進一步的預防措施。
| 術語 | 描述 |
|---|---|
| 俄歇電子能譜 Auger electron spectroscopy (AES) | 一種表面分析技術，利用俄歇電子的特性來分析材料表面的化學成分 |
| 二次離子質譜 Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) | 通過濺射產生二次離子并進行質譜分析的技術 |
| X射線光電子能譜 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS or ESCA) | 通過X射線激發(fā)樣品表面電子并測量其動能來分析表面化學成分的技術 |
| 全反射X射線熒光光譜 Total reflection X-ray fluorescence spectroscopy (TXRF) | 一種表面敏感的分析技術，用于檢測表面元素組成 |
| 聚四氟乙烯 Polytetrafluoroethylene (PTFE) | 一種常用于樣品處理的化學惰性材料 |
BS ISO 18117:2009(2015) 中提到的儀器設備
專題
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