ANSI/NEMA 62321-5-2013
電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第5部分：用 AAS、AFS、ICP-OES 和 ICP-MS 測定聚合物和電子產(chǎn)品中的鎘、鉛和鉻以及金屬中的鎘和鉛

Determination of Certain Substances in Electrotechnical Products Part 5: Cadmium, Lead and Chromium in Polymers and Electronics and Cadmium and Lead in Metals by AAS, AFS, ICP-OES and ICP-MS

標(biāo)準(zhǔn)號

ANSI/NEMA 62321-5-2013

發(fā)布

2024年

發(fā)布單位

SCC

當(dāng)前最新

ANSI/NEMA 62321-5-2013

 

 

適用范圍

IEC 62321 的這一部分描述了使用 AAS、AFS、ICP-OES 和 ICP-MS 測試聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中鉛、鎘和鉻的方法。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子技術(shù)產(chǎn)品中鎘 (Cd)、鉛 (Pb) 和鉻 (Cr) 含量的測定。它涵蓋三種類型的基質(zhì)：聚合物/聚合物工件、金屬和合金以及電子產(chǎn)品。本標(biāo)準(zhǔn)將樣品稱為要處理和測量的對象。樣品是什么或如何獲取樣品由執(zhí)行測試的實體定義。有關(guān)從成品電子產(chǎn)品中獲取代表性樣品以測試受管制物質(zhì)含量的進(jìn)一步指導(dǎo)，請參閱 IEC 62321-2。需要注意的是，樣品的選擇和/或測定可能會影響測試結(jié)果的解釋。本標(biāo)準(zhǔn)描述了四種方法的使用，即AAS（原子吸收光譜法）、AFS（原子熒光光譜法）、ICP-OES（電感耦合等離子體發(fā)射光譜法）和ICP-MS（電感耦合等離子體質(zhì)譜法）以及制備樣品溶液的幾種程序，專家可以從中選擇最合適的分析方法。由于聚合物和電子產(chǎn)品中的六價鉻分析有時難以確定，本標(biāo)準(zhǔn)介紹了除AFS之外的聚合物和電子產(chǎn)品中鉻的篩選方法。鉻分析提供了有關(guān)材料中六價鉻存在的信息。然而，元素分析不能選擇性地檢測六價鉻；它確定樣品中所有氧化狀態(tài)下鉻的含量。如果鉻的含量超過六價鉻的限量，則應(yīng)進(jìn)行六價鉻檢測。本標(biāo)準(zhǔn)中描述的檢測程序旨在為 Pb、Cd 和 Cr 的濃度提供最高的準(zhǔn)確度和精確度，這些濃度范圍：使用 ICP-OES 和 AAS 時，Pb、Cd 和 Cr 的含量為 10 mg/kg；使用 ICP-MS 時，Pb 和 Cd 的含量為 0.1 mg/kg；使用 AFS 時，Pb 的含量范圍為 10 mg/kg 和 Cd 的含量范圍為 1.5 mg/kg。這些程序不受更高濃度的限制。由于多氟聚合物的穩(wěn)定性，本標(biāo)準(zhǔn)不適用于含有這些聚合物的材料。如果在分析過程中使用硫酸，則存在丟失 Pb 的風(fēng)險，從而導(dǎo)致該分析物的數(shù)值錯誤地偏低。此外，硫酸和氫氟酸不適用于原子熒光法測定鎘，因為它們會干擾鎘的還原。由于樣品的溶解步驟，存在局限性和風(fēng)險，例如可能會發(fā)生目標(biāo)物或其他元素的沉淀，在這種情況下必須單獨檢查殘留物或用其他方法溶解，然后與測試樣品溶液混合。

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