ASTM C1605-04(2014)
陶瓷白色材料化學分析的標準測試方法使用波長色散X射線熒光光譜法
Standard Test Methods for Chemical Analysis of Ceramic Whiteware Materials Using Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometry
2009-10
- 標準號
- ASTM C1605-04(2014)
- 發(fā)布
- 2014年
- 總頁數(shù)
- 5頁
- 發(fā)布單位
- 美國材料與試驗協(xié)會
- 替代標準
- ASTM C1605-09
- 當前最新
- ASTM C1605-09
- 引用標準
- ASTM C242 ASTM C322 ASTM C323
- 本體
- 波長色散X射線熒光光譜法
- 適用范圍
- 1.1 本測試方法涵蓋了陶瓷白瓷粘土和礦物中十種主要元素（SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O、TiO2、P2O5、MnO和LOI）的測定，采用波長色散X射線熒光光譜法（WDXRF） ）。首先將樣品點燃，然后與四硼酸鋰熔融，并將所得玻璃盤引入波長色散 X 射線光譜儀中。用來自 X 射線管的 X 射線照射該盤。由使用先前準備的校準標準對樣品中的元素進行計數(shù)并確定濃度。(1)2 除了 10 種主要元素外，該方法還提供重量燒失量。注 1——該測試方法的大部分內(nèi)容是直接源自波長色散 X 射線熒光光譜法的主要元素分析，包含在參考文獻 (1) 中。
1.2 通過 WDXRF 進行分析時，干擾可能是由礦物學或其他結構效應、譜線重疊和基體效應產(chǎn)生的。樣品的結構，無論是礦物結構還是其他結構，都可以通過使用合適的助熔劑進行熔合來消除。樣品的融合減少了基體效應，并產(chǎn)生穩(wěn)定、平坦、均質的樣品以呈現(xiàn)給光譜儀。選擇某些類型的晶體單色儀可以消除許多譜線重疊和多級譜線干擾。數(shù)學校正程序 (2) 用于校正吸收和增強矩陣效應。
1.3 粘土和礦物中元素的濃度的測定與氧化態(tài)無關，并以它們在地殼中最常出現(xiàn)的氧化態(tài)進行報告。
1.4 濃度范圍： 元素 濃度范圍（百分比） SiO2 0.10 99.0 Al2O3 0.10 58.0 Fe2O3 0.04 28.0 MgO 0.10 60.0 CaO 0.02 60.0 Na2O 0.15 30.0 K2O 0.02 30.0 TiO2 0.02 10 .0 P2O5 0.05 50.0 MnO 0.01 15.0 LOI (925℃) 0.01 100.0 1.5 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責任在使用前建立適當?shù)陌踩徒】祵嵺`并確定監(jiān)管限制的適用性。
ASTM C1605-04(2014) 中提到的儀器設備
| Pt-Au合金坩堝和模具 | 用于樣品熔融和制備玻璃圓片的設備。 |
| 同時X射線光譜儀 Philips PW1606或等效型號 | 用于測定樣品中元素組成的儀器。 |