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KS E 3075-2022
石灰石和白云石的X射線熒光光譜分析方法

Method for X-ray fluorescence spectrometric analysis of limestone and dolomite

標(biāo)準(zhǔn)號(hào): KS E 3075-2022
發(fā)布: 2022年
發(fā)布單位: 韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局
當(dāng)前最新: KS E 3075-2022

介紹: 該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用X射線熒光光譜技術(shù)對(duì)石灰石和白云石樣品進(jìn)行化學(xué)成分分析的具體方法。內(nèi)容涵蓋樣品的制備、儀器的校準(zhǔn)、測量條件的設(shè)定以及結(jié)果的計(jì)算與表達(dá)方式。標(biāo)準(zhǔn)中明確了不同元素的檢測限和允許的誤差范圍，確保分析過程的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。同時(shí)，還提供了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理方法和質(zhì)量控制措施，為相關(guān)領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)室提供了統(tǒng)一的操作規(guī)范。

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X射線熒光光譜分析的簡介

　　利用初級(jí)X射線光子或其他微觀離子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級(jí)X射線）而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究的方法。按激發(fā)、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法（波長色散）和X射線能譜法（能量色散）。　　根據(jù)色散方式不同，X射線熒光分析儀相應(yīng)分為X射線熒光光譜儀（波長色散）和X射線熒光能譜儀...

X射線熒光光譜分析的樣品說明

　　X射線熒光光譜分析基本上是一種相對(duì)分析方法，需要有相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)樣品作為測量基準(zhǔn)。因此，制樣方法的好壞是X射線熒光光譜分析儀應(yīng)用的關(guān)鍵，標(biāo)準(zhǔn)樣品與待測試樣應(yīng)經(jīng)過同樣的制樣處理，制成物理性質(zhì)和化學(xué)組成相似的、表面平整均勻、有足夠代表性的形式。使用X射線熒光光譜分析的樣品一般有固體樣品、粉末樣品和液體...

簡介X射線熒光光譜分析的樣品

　　進(jìn)行X射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態(tài)，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對(duì)測定誤差影響很大。對(duì)金屬樣品要注意成份偏析產(chǎn)生的誤差；化學(xué)組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計(jì)數(shù)率也不同；成分不均勻的金屬試樣要重熔，快速冷卻后車成圓片；對(duì)表面不平的樣品要打磨拋光；對(duì)于粉末樣品，要研磨至...

X射線熒光光譜分析的樣品制備

　　進(jìn)行X射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態(tài)，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對(duì)測定誤差影響很大?！　?duì)金屬樣品要注意成分偏析產(chǎn)生的誤差；化學(xué)組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計(jì)數(shù)率也不同；成分不均勻的金屬試樣要重熔，快速冷卻后制成圓片；對(duì)表面不平的樣品要打磨拋光；對(duì)于粉末樣品，要...