DB35/T 1370-2013
發(fā)光二極管芯片點測方法
Light-emitting diode chip point test method
- 標準號
- DB35/T 1370-2013
- 發(fā)布
- 2013年
- 總頁數
- 12頁
- 發(fā)布單位
- 福建省地方標準
- 當前最新
- DB35/T 1370-2013
- 適用范圍
- 本標準規(guī)定了發(fā)光二極管芯片（以下簡稱芯片）的點測條件和點測方法。 本標準適用于可見光發(fā)光二極管芯片光參數、直流電參數以及靜電放電敏感性的點測。紫外光、紅 外光發(fā)光二極管芯片以及外延片的點測也可參照使用。 本標準不適用于發(fā)光二極管芯片的熱參數和交流特性測試。
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專題
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