半導(dǎo)體器件-機(jī)械與氣候試驗(yàn)方法-第6部分:高溫存儲(chǔ)(IEC 47/2297/CDV:2016);德國(guó)版 prEN 60749-6:2016;法文版 prE N 60749-6:2016
此草案發(fā)布于2016年8月19日,向公眾征求評(píng)審意見。由于該規(guī)范可能與現(xiàn)有草案有所不同,因此在使用本草案時(shí)特別需協(xié)商一致。請(qǐng)通過 DIN 的規(guī)范草案門戶(www.din.de/go/entwuerfebzw)或 DKE 規(guī)范草案庫(kù)(www.entwuerfe.normenbibliothek.de)在線提交意見;或者以電子表格形式發(fā)送電子郵件至ke@vde.com,或在 www.din.de/go/stellungnahmen-norm-entwuerfe 和 www.dke.de/stellungnahme 下載模板。總頁數(shù)為12頁。
本德文版與 prEN 60749-6:2016 保持一致,該規(guī)范由國(guó)際電工委員會(huì)(IEC)和歐洲電工標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)(CENELEC)合作完成,旨在加快標(biāo)準(zhǔn)化工作。因此,此草案中包含 IEC47/2297/CDV:2016 的內(nèi)容未做更改。
本文件的英文原文作為參考附在其中。德文版和英文版的使用條款同樣適用。
針對(duì)本文件進(jìn)行的修改包括:增加額外的測(cè)試條件;明確測(cè)試條件的應(yīng)用范圍。本部分詳細(xì)描述了半導(dǎo)體器件機(jī)械與氣候試驗(yàn)方法中的第六部分,即高溫存儲(chǔ)條件下的存放。
Copyright ?2007-2025 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號(hào) 京公網(wǎng)安備1101085018 電信與信息服務(wù)業(yè)務(wù)經(jīng)營(yíng)許可證:京ICP證110310號(hào)
頁面更新時(shí)間: 2025-02-07 14:30