BH GSO ISO 13084:2016
表面化學(xué)分析 二次離子質(zhì)譜 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀的質(zhì)量標(biāo)度校準(zhǔn)

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

BH GSO ISO 13084:2016

發(fā)布

2016年

發(fā)布單位

巴林國家計(jì)量局

當(dāng)前最新

BH GSO ISO 13084:2016

 

 

介紹

該標(biāo)準(zhǔn)提供了關(guān)于如何使用飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀進(jìn)行質(zhì)量標(biāo)度校準(zhǔn)的詳細(xì)指南，適用于表面化學(xué)分析領(lǐng)域。它確保了儀器在測(cè)量時(shí)具有高精度和可靠性，有助于研究人員獲取準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

***此介紹可能不準(zhǔn)確，請(qǐng)注意參考原文。

BH GSO ISO 13084:2016 中可能用到的儀器設(shè)備

專題

BH GSO ISO 13084:2016相似標(biāo)準(zhǔn)