DIN ISO 15472 E:2019
文件草案 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀 能量標(biāo)度校準(zhǔn)（ISO 15472:2010） 英文文本

Draft Document - Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectrometers - Calibration of energy scales (ISO 15472:2010); Text in English

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號

DIN ISO 15472 E:2019

發(fā)布

2019年

發(fā)布單位

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會

替代標(biāo)準(zhǔn)

DIN ISO 15472:2019-09

當(dāng)前最新

DIN ISO 15472:2020-05

 

 

介紹

該標(biāo)準(zhǔn)草案描述了使用X射線光電子能譜儀進(jìn)行表面化學(xué)分析時能量標(biāo)度校準(zhǔn)的方法。它詳細(xì)規(guī)定了儀器的設(shè)定和操作步驟，以確保測量結(jié)果的一致性和準(zhǔn)確性。適用于需要精確能量標(biāo)度的數(shù)據(jù)分析研究和技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域。

***此介紹可能不準(zhǔn)確，請注意參考原文。

專題

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