ASTM E1931-97(2003)
X射線康普頓散射斷層攝影的標(biāo)準(zhǔn)指南
Standard Guide for X-Ray Compton Scatter Tomography
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- ASTM E1931-97(2003)
- 發(fā)布
- 1997年
- 總頁數(shù)
- 14頁
- 發(fā)布單位
- 美國材料與試驗協(xié)會
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E1931-09
- 當(dāng)前最新
- ASTM E1931-16(2022)
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E1025 ASTM E1255 ASTM E1316 ASTM E1441 ASTM E1453 ASTM E1475 ASTM E1647 ASTM E747 MIL-STD-410
- 適用范圍
- 康普頓散射斷層掃描的主要優(yōu)點8212；CST 的主要優(yōu)點是能夠執(zhí)行三維 X 射線檢查，而無需接觸檢查對象的背面。 CST 提供了執(zhí)行 X 射線檢查的可能性，這是任何其他方法都無法實現(xiàn)的。 CST 表面下切片圖像受檢查平面外的檢查對象特征的影響最小。結(jié)果是包含主要來自切片平面的信息的射線透視圖像。散射輻射限制了正常射線照相和射線透視成像中的圖像質(zhì)量。散射輻射不會對 CST 產(chǎn)生同樣的有害影響，因為散射輻射用于形成圖像。事實上，檢查對象散射的輻射越多，CST 結(jié)果就越好。無法通過傳統(tǒng)射線照相和射線透視手段良好成像的低對象對比度材料通常是 CST 的絕佳候選者。 CST 斷層掃描可實現(xiàn)非常高的對比靈敏度和出色的空間分辨率。局限性8212；與任何無損檢測方法一樣，CST 有其局限性。該技術(shù)對于低密度材料的相當(dāng)厚的部分很有用。雖然鋁材可達(dá)到 25 毫米 [1 英寸] 深度，塑料材可達(dá)到 50 毫米 [2 英寸] 深度，但隨著材料密度的增加，檢查深度會急劇減小。正確的圖像解釋需要使用具有已知內(nèi)部條件或代表性質(zhì)量指標(biāo) (RQI) 的標(biāo)準(zhǔn)和檢查對象。檢查體積通常很小，約為幾立方英寸，可能需要幾分鐘才能成像。因此，使用 CST 徹底檢查大型結(jié)構(gòu)需要對檢查體積進(jìn)行密集的重新定位，這可能非常耗時。與其他穿透輻射方法一樣，必須妥善解決輻射危害。
1.1 目的8212；本指南提供教程介紹，使讀者熟悉 X 射線康普頓散射斷層掃描 (CST) 固有的操作功能和限制。還包括 CST 的物理和典型硬件配置的簡要說明。
1.2 優(yōu)點8212；X 射線康普頓散射斷層掃描 (CST) 是一種放射學(xué)無損檢查方法，具有以下幾個優(yōu)點：
1.2.1 執(zhí)行 X 射線的能力無需接觸檢查對象的另一側(cè)即可進(jìn)行檢查；1.2.2 X 射線束無需完全穿透檢查對象，從而可以對較厚的物體進(jìn)行部分檢查。厚的檢查物體成為輻射屏蔽的一部分，從而減少輻射危害；1.2.3 在受表面特征影響最小的情況下對檢查物體表面下特征進(jìn)行成像的能力；1.2.4 從低被攝體對比度材料獲取高對比度圖像的能力，使用傳統(tǒng)透射束 X 射線成像方法時通常會產(chǎn)生低對比度圖像； 1.2.5 能夠獲取檢查對象特征的深度信息，從而提供三維檢查。獲得深度信息的能力以使用具有窄接收角的高度準(zhǔn)直探測器系統(tǒng)為前提。
1.3 應(yīng)用8212；本指南沒有指定哪些檢查對象適合或不適合CST。與大多數(shù)無損檢測技術(shù)一樣，CST 具有高度的應(yīng)用特定性，因此需要首先在應(yīng)用實驗室中證明該方法的適用性。本指南不提供 CST 技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化實踐或應(yīng)用的指導(dǎo)。沒有提供有關(guān)接受或拒絕 CST 檢查的檢查對象的指導(dǎo)......