DB51/T 3207-2024
集成電路測試用微波探針應(yīng)用規(guī)范
Microwave Probes Application Specifications for Integrated Circuit Testing
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- DB51/T 3207-2024
- 發(fā)布
- 2024年
- 總頁數(shù)
- 10頁
- 發(fā)布單位
- 四川省標(biāo)準(zhǔn)
- 當(dāng)前最新
- DB51/T 3207-2024
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 11313 GB/T 12842 GB/T 9178 SJ/T 11587
- 本體
- 射頻連接器
- 適用范圍
- 本文件規(guī)定了集成電路測試用微波探針（以下簡稱“探針”）的分類、應(yīng)用要求、故障判定、推薦指數(shù)、維護(hù)需求等。 本文件適用于微波集成電路中測試微波探針的選用。
DB51/T 3207-2024 中提到的儀器設(shè)備
| 探針臺(tái) | 微波探針測試系統(tǒng)中用于固定和對(duì)準(zhǔn)探針與被測器件的設(shè)備。 |
| 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 | 用于測量電路或設(shè)備的頻率響應(yīng)和其他網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的儀器。 |