SAE AS6171/11-2016
通過(guò)設(shè)計(jì)恢復(fù)測(cè)試方法檢測(cè)可疑/假冒 EEE 部件的技術(shù)

Techniques for Suspect/Counterfeit EEE Parts Detection by Design Recovery Test Methods

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標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

SAE AS6171/11-2016

發(fā)布

2016年

總頁(yè)數(shù)

10頁(yè)

發(fā)布單位

美國(guó)機(jī)動(dòng)車工程師協(xié)會(huì)

當(dāng)前最新

SAE AS6171/11-2016

 

 

適用范圍

該方法概述了與應(yīng)用設(shè)計(jì)恢復(fù)檢測(cè)假冒電子零件相關(guān)的要求@能力@和限制，包括： 操作員培訓(xùn)；樣品制備;成像技術(shù)；數(shù)據(jù)解釋；設(shè)計(jì)/功能匹配；設(shè)備維護(hù)和；數(shù)據(jù)報(bào)告。該方法主要針對(duì)通過(guò)電路延遲和掃描電子顯微鏡或光學(xué)顯微鏡成像進(jìn)行的分析；然而，許多概念適用于其他顯微鏡和探測(cè)技術(shù)來(lái)恢復(fù)設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)。該方法并不是為了制造設(shè)備的副本，而是為了比較圖像或恢復(fù)設(shè)計(jì)以確定真實(shí)性。如果合同中引用了 AS6171/11，則基礎(chǔ)文件@ AS6171 一般要求也應(yīng)適用。

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