DIN 54187:2024
無(wú)損檢測(cè) 相對(duì)運(yùn)動(dòng)主動(dòng)熱成像
Non-destructive testing - Active thermography with relative motion
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- DIN 54187:2024
- 發(fā)布
- 2024年
- 總頁(yè)數(shù)
- 23頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- DIN 54187:2024-02
- 當(dāng)前最新
- DIN 54187:2024-11
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- DIN 54183 DIN 54184 DIN EN 15042-2 DIN EN 16714-3 DIN EN 17501 DIN IEC/TS 63144-1
- 適用范圍
- 本文件規(guī)定了在檢測(cè)系統(tǒng)與被檢測(cè)對(duì)象之間存在相對(duì)運(yùn)動(dòng)時(shí)，使用主動(dòng)熱成像技術(shù)進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)的測(cè)試程序。該檢測(cè)用于發(fā)現(xiàn)分層、氣孔、裂紋、錯(cuò)位等不規(guī)則現(xiàn)象。可檢測(cè)的缺陷類型取決于熱激勵(lì)的類型。選擇相應(yīng)的無(wú)相對(duì)運(yùn)動(dòng)檢測(cè)程序作為決策依據(jù)。同樣適用于相關(guān)的安全提示和檢測(cè)評(píng)估。對(duì)于激光激勵(lì)的情況，存在有和無(wú)相對(duì)運(yùn)動(dòng)的附加檢測(cè)技術(shù)，這些技術(shù)在DIN EN 17501中處理。
| 術(shù)語(yǔ) | 描述 |
|---|---|
| 定量評(píng)估 quantitative evaluation | 對(duì)熱成像序列進(jìn)行評(píng)估，明確將溫度作為位置和時(shí)間的函數(shù)進(jìn)行數(shù)值分析，以定量確定參數(shù) |
| 定性評(píng)估 qualitative evaluation | 對(duì)熱成像序列進(jìn)行評(píng)估，不明確分析溫度隨時(shí)間的變化，僅考慮有缺陷和無(wú)缺陷部分之間的熱對(duì)比 |
| 信號(hào)強(qiáng)度 Signal intensity | 攝像機(jī)電子設(shè)備作為數(shù)字化結(jié)果生成的無(wú)量綱數(shù)，表示紅外輻射在探測(cè)器像素上引起的電學(xué)特性 |
| 激勵(lì)強(qiáng)度 Excitation intensity | 通過(guò)熱激勵(lì)產(chǎn)生的熱流密度中被檢測(cè)對(duì)象吸收的部分 |
| 缺陷深度 Defect depth | 缺陷垂直于被檢測(cè)對(duì)象表面的延伸 |
DIN 54187:2024 中提到的儀器設(shè)備
| 紅外攝像機(jī) | 用于捕捉紅外輻射并生成熱成像圖像的設(shè)備 |