ASTM C1221-10(2018)
用γ射線光譜法對(duì)均勻溶液中的特殊核材料進(jìn)行無(wú)損分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
Standard Test Method for Nondestructive Analysis of Special Nuclear Materials in Homogeneous Solutions by Gamma-Ray Spectrometry
1. 范圍與原理
本方法適用于均質(zhì)溶液中γ射線發(fā)射型特殊核材料（SNM）濃度的測(cè)定，通過(guò) 高純鍺探測(cè)器 測(cè)量特征γ射線強(qiáng)度，并采用外部透射源校正溶液及容器的衰減效應(yīng)。
2. 設(shè)備與材料
| 設(shè)備名稱 | 規(guī)格要求 | 用途 |
|---|---|---|
| 高分辨率γ射線探測(cè)器 | FWHM≤1000 eV@122 keV | 核素特征峰測(cè)量 |
| 透射校正源 | 75Se(400.1 keV)/169Yb(177.2 keV) | 衰減系數(shù)測(cè)定 |
| 計(jì)數(shù)率校正源 | 241Am(59.5 keV)/109Cd(88.0 keV) | 死時(shí)間修正 |
3. 操作流程
3.1 系統(tǒng)校準(zhǔn)
- 使用至少3個(gè)已知濃度的標(biāo)準(zhǔn)溶液建立校準(zhǔn)曲線
- 測(cè)量透射源空載計(jì)數(shù)率(TA'o)及帶空容器計(jì)數(shù)率(TA')
- 按公式計(jì)算容器透射率：Tc = (TA'/TA'o)KA
3.2 樣品測(cè)定
- 將樣品置于 固定幾何容器 中，確保液面高度一致
- 同步采集核素特征峰、透射源及校正源能譜數(shù)據(jù)
- 使用公式校正計(jì)數(shù)損失：A' = A×(Lo/L)
4. 數(shù)據(jù)處理
| 參數(shù) | 計(jì)算公式 | 說(shuō)明 |
|---|---|---|
| 總衰減校正因子 | CFslab = -2√Tc×ln(T)/(1-T) | 平板幾何適用 |
| 核素濃度 | M = m×(A'×CF) + b | m為校準(zhǔn)斜率，b為截距 |
5. 質(zhì)量控制
- 每日驗(yàn)證探測(cè)器能量分辨率（≤1.5 keV@1332 keV）
- 每周使用控制樣品驗(yàn)證校準(zhǔn)曲線偏差（≤0.5%）
- 定期檢查 鉛屏蔽室 完整性以減少環(huán)境本底干擾
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- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- ASTM C1221-10(2018)
- 發(fā)布
- 2018年
- 總頁(yè)數(shù)
- 8頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
- 當(dāng)前最新
- ASTM C1221-10(2018)
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ANSI N15.20 ANSI N15.35 ANSI N15.37 ANSI N42.14 ASTM C1133/C1133M ASTM C1168 ASTM C1490 ASTM C1592/C1592M ASTM C1673 ASTM E181
1.1 本試驗(yàn)方法涵蓋溶解在均質(zhì)溶液中的伽馬射線發(fā)射特殊核材料濃度的測(cè)定。該測(cè)試方法通過(guò)測(cè)量來(lái)自外部源的伽馬射線束的透射來(lái)校正溶液及其容器的伽馬射線衰減（參考文獻(xiàn)（1）、（2）和（3））。2 1.2 兩個(gè)考慮了解決方案的幾何形狀、平板和圓柱體。確定幾何形狀的解決方案容器可以是可移除的或固定的幾何容器。該測(cè)試方法僅限于具有相等透射率的壁或頂部和底部的溶液容器，...