盡管二者都是把物質(zhì)激發(fā)后檢測(cè)其熒光，但二者的區(qū)別很大，從大的方面看主要有兩點(diǎn)： 1、激發(fā)光源不同。 原子熒光用的光源很多，如各種激光等，但很少見(jiàn)有用X-射線的；而X-射線熒光則是用X-射線作激發(fā)光源。 2、用途不同。 原熒主要用來(lái)作定量分析，尤其是金屬元素的定量分析；而X熒主要用來(lái)作定性分析和結(jié)構(gòu)分析。當(dāng)然二者的儀器構(gòu)造、使用方法、檢測(cè)范圍、樣品制備等等都不一樣。 ...
如果分光晶體和控測(cè)器作同步運(yùn)動(dòng)，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內(nèi)各種元素所產(chǎn)生的特征X射線的波長(zhǎng)及各個(gè)波長(zhǎng)X射線的強(qiáng)度，可以據(jù)此進(jìn)行定性和定量分析。該儀器產(chǎn)生于50年代，由于可以對(duì)復(fù)雜體系進(jìn)行多組分同時(shí)測(cè)定，受到觀注，特別在地質(zhì)部門(mén)，先后配置了這種儀器，分析速度顯著提高，起了重要作用。隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，在60年代初發(fā)明了半導(dǎo)體探測(cè)器以后，對(duì)X-熒光進(jìn)行能譜分析成了可能。...
如果分光晶體和控測(cè)器作同步運(yùn)動(dòng)，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內(nèi)各種元素所產(chǎn)生的特征X射線的波長(zhǎng)及各個(gè)波長(zhǎng)X射線的強(qiáng)度，可以據(jù)此進(jìn)行定性和定量分析。??能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF)，用X射線管產(chǎn)生原級(jí)X射線照射到樣品上，所產(chǎn)生的特征X射線(熒光)直接進(jìn)入半導(dǎo)體探測(cè)器，便可以據(jù)此進(jìn)行定性分析和定量分析。??...
XRF工作原理是X射線光管發(fā)出的初級(jí)X射線照射樣品，樣品中原子的內(nèi)層電子被激發(fā)，當(dāng)外層電子躍遷時(shí)產(chǎn)生特征X射線，通過(guò)分析樣品中不同元素產(chǎn)生的特征熒光X射線波長(zhǎng)（或能量）和強(qiáng)度，可以獲得樣品中的元素組成與含量信息，達(dá)到定性定量分析的目的。...
Copyright ?2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號(hào) 京公網(wǎng)安備1101085018 電信與信息服務(wù)業(yè)務(wù)經(jīng)營(yíng)許可證：京ICP證110310號(hào)