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T/CI 035-2022
鋰離子電池X射線檢測(cè)設(shè)備放大倍率標(biāo)定方法

Calibration method of magnification of X-ray detection equipment for lithium ion battery

2023-03

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
T/CI 035-2022
發(fā)布
2022年
總頁(yè)數(shù)
12頁(yè)
發(fā)布單位
中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
替代標(biāo)準(zhǔn)
T/CI 035-2023
當(dāng)前最新
T/CI 035-2023
 
 
適用范圍
3.1 針規(guī) Pin gauge 由白鋼、工具鋼、陶瓷和鎢鋼軸承鋼等硬度較高材料制成的具有特定尺寸的圓棒。 3.2單像素精度 Single pixel accuracy 圖像上單個(gè)像素所對(duì)應(yīng)的物理尺寸。 3.3放大倍數(shù) Magnification X射線源焦點(diǎn)到X射線探測(cè)器接受面距離與X射線源焦點(diǎn)到被檢試樣距離的比值 3.4像素尺寸 Pixel size X射線探測(cè)器每個(gè)像素的實(shí)際物理尺寸。 4 方法概要 使用與卷繞型或疊片型鋰離子電池對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)試樣在X射線檢測(cè)設(shè)備中成像,標(biāo)準(zhǔn)試樣的實(shí)際尺寸d1與平板探測(cè)器的像素尺寸已知,用成像中標(biāo)準(zhǔn)試樣所占的像素?cái)?shù)量乘以平板探測(cè)器的像素尺寸,得到標(biāo)準(zhǔn)試樣在平板探測(cè)器成像面上的投影尺寸d2。用投影尺寸d2除以標(biāo)準(zhǔn)試樣的實(shí)際尺寸d1,得到當(dāng)前狀態(tài)下成像系統(tǒng)的放大倍數(shù)。   1——X射線源焦點(diǎn); 2——被檢試樣; 3——X射線探測(cè)器接收面; d1——標(biāo)準(zhǔn)試樣的實(shí)際尺寸; d2——標(biāo)準(zhǔn)試樣在平板探測(cè)器成像面上的投影尺寸。 圖1 X射線成像系統(tǒng)投影放大原理示意圖 5 設(shè)備組成   5.1 X射線源 5.1.1應(yīng)根據(jù)被檢測(cè)鋰離子電池的材質(zhì)和厚度選擇X射線源的能量范圍; 5.1.2 應(yīng)根據(jù)圖像分辨率和靈敏度選擇X射線源的焦點(diǎn)尺寸。 5.2 圖像處理系統(tǒng) 包括平板探測(cè)器、X射線采集和成像軟件、數(shù)字圖像處理單元和顯示單元等。 5.3 機(jī)械裝置 5.3.1 X射線束方向宜與鋰離子電池檢測(cè)位置的極片平行。 5.3.2 X射線束中心軸宜處于鋰離子電池被檢測(cè)位置中心。 5.3.3 可根據(jù)鋰離子電池規(guī)格,調(diào)節(jié)X射線源、鋰離子電池和X射線探測(cè)器三者之間的距離。 5.4 標(biāo)準(zhǔn)試樣 5.4.1 尺寸精度需達(dá)到±0.003mm。 5.4.2 卷繞型鋰離子電池標(biāo)準(zhǔn)試樣的針規(guī)應(yīng)按高度方向調(diào)節(jié)。 5.4.3 疊片型鋰離子電池標(biāo)準(zhǔn)試樣的針規(guī)應(yīng)與X射線源束方向垂直。 5.4.4 標(biāo)準(zhǔn)試樣中針規(guī)直徑宜采用直徑2.000mm的針規(guī)。 5.4.5 校準(zhǔn)精度±0.003mm,校準(zhǔn)周期為1年。 5.5 X射線屏蔽鉛房 鉛房射線防護(hù)應(yīng)符合GB 18871。
術(shù)語(yǔ)描述
針規(guī)
Pin gauge
由高硬度材料制成的具有特定尺寸的圓棒,用于測(cè)量和校準(zhǔn)。
單像素精度
Single pixel accuracy
圖像上單個(gè)像素所對(duì)應(yīng)的物理尺寸。
放大倍數(shù)
Magnification
X射線源焦點(diǎn)到探測(cè)器距離與被檢試樣距離的比值。
像素尺寸
Pixel size
X射線探測(cè)器每個(gè)像素的實(shí)際物理尺寸。

T/CI 035-2022 中提到的儀器設(shè)備

X射線源
產(chǎn)生X射線的設(shè)備,選擇能量范圍和焦點(diǎn)尺寸取決于電池材質(zhì)和厚度。
平板探測(cè)器
用于接收X射線信號(hào)并生成數(shù)字圖像。
數(shù)字圖像處理單元
對(duì)X射線圖像進(jìn)行處理和分析的設(shè)備。

專(zhuān)題


T/CI 035-2022相似標(biāo)準(zhǔn)





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