EXF鍍層測厚儀可測量各種金屬涂層的厚度

EXF鍍層測厚儀中原子的性質(zhì)是由原子序數(shù)決定的，即軌道中質(zhì)子數(shù)或電子數(shù)，具體x射線能量與原子序數(shù)的關(guān)系如圖所示。K輻射的能量遠高于L輻射的能量。涂層厚度的測量方法主要有楔切法、光學截斷法、電解法、厚度差測量法、稱重法、x射線熒光法、射線背散射法、電容法、磁性測量法和渦流測量法。前五種方法都是有損檢測，測量手段繁瑣、速度慢，更適合抽樣檢查。?　　...