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SIS SS-ISO 9220:1989
金屬涂層．涂層厚度測(cè)量．掃描電子顯微鏡方法

Metallic coatings — Measurements of coating thickness — Scanning electron microscope method

標(biāo)準(zhǔn)號(hào): SIS SS-ISO 9220:1989
發(fā)布: 1989年
總頁數(shù): 6頁
發(fā)布單位: SE-SIS
當(dāng)前最新: SIS SS-ISO 9220:1989

適用范圍: 本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通過掃描電子顯微鏡（SEM）檢查橫截面來測(cè)量金屬涂層局部厚度的方法。它具有破壞性，不確定性小于 10 % 或 0,1 |jm，以較大者為準(zhǔn)。它可用于厚度達(dá)幾毫米的樣品，但在適用時(shí)使用光學(xué)顯微鏡 (ISO 1463) 通常更實(shí)用。

專題

熱噴涂涂層顯微硬度掃描電鏡觀測(cè) 掃描電鏡測(cè)量方法有哪些掃描電鏡金屬制樣金屬掃描電鏡制樣涂層顯微硬度檢測(cè) 金屬層掃描電鏡二次元顯微鏡測(cè)量方法掃描電鏡計(jì)量校準(zhǔn)方法

SIS SS-ISO 9220:1989相似標(biāo)準(zhǔn)

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