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VSM 34130-1934
鋁及鋁合金陽極氧化．陽極氧化膜厚度的測(cè)定．用分束顯微鏡作無損測(cè)量

Anodizing of aluminum and aluminum alloys. Determination of anodic oxide film thickness. Non-destructive measurements using beam splitting microscopy


標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
VSM 34130-1934
發(fā)布
1934年
發(fā)布單位
CH-SNV
當(dāng)前最新
VSM 34130-1934
 
 

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