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VSM 18653.1-1965
鋁及鋁合金陽極氧化.陽極氧化膜厚度的測定.用分束顯微鏡作無損測量

Anodizing of aluminum and aluminum alloys. Determination of anodic oxide film thickness. Non-destructive measurements using beam splitting microscopy


標準號
VSM 18653.1-1965
發(fā)布
1965年
發(fā)布單位
CH-SNV
當前最新
VSM 18653.1-1965
 
 

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