ASTM E1382-97
用半自動和自動圖象分析法測量平均粒度的標準測試方法

Standard Test Methods for Determining Average Grain Size Using Semiautomatic and Automatic Image Analysis

被代替

標準號

ASTM E1382-97

發(fā)布

1997年

發(fā)布單位

美國材料與試驗協(xié)會

替代標準

ASTM E1382-97(2004)

當前最新

ASTM E1382-97(2023)

 

 

適用范圍

1.1 這些測試方法用于通過測量晶粒截距長度、截距計數(shù)、交叉計數(shù)、晶界長度和晶粒面積來確定晶粒尺寸。
1.2 這些測量是通過半自動數(shù)字化平板電腦或使用顯微鏡產(chǎn)生的晶粒結(jié)構(gòu)圖像進行自動圖像分析來進行的。
1.3 這些測試方法適用于任何類型的晶粒結(jié)構(gòu)或晶粒尺寸分布，只要晶粒邊界可以通過蝕刻和后續(xù)圖像處理（如果需要）清晰地描繪出來。
1.4 這些測試方法適用于其他粒狀微觀結(jié)構(gòu)的測量，例如細胞結(jié)構(gòu)。
1.5 本標準僅涉及推薦的測試方法，其中的任何內(nèi)容均不應(yīng)被解釋為定義或建立測試材料的可接受性或適用性的限制。
1.6 本標準并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責(zé)任在使用前建立適當?shù)陌踩徒】祵嵺`并確定監(jiān)管限制的適用性。
1.7 各節(jié)按以下順序出現(xiàn)： 節(jié) 節(jié)范圍 1 參考文件 2 術(shù)語 3 定義 3.1 本標準特有術(shù)語的描述 3.2 符號 3.3 測試方法概述 4 意義和用途 5 干擾 6 儀器 7 取樣 8 測試樣品 9 樣品制備10 校準 11 程序：半自動數(shù)字化平板電腦 12 截距長度 12.3 截距和交叉計數(shù) 12.4 晶粒計數(shù) 12.5 晶粒面積 12.6 ALA 晶粒尺寸 12.6.1 兩相晶粒結(jié)構(gòu) 12.7 程序：自動圖像分析 13 晶界長度 13.5 交叉計數(shù) 13.6 平均弦（截距）長度/場 13.7 單個弦（截距）長度 13.7.4 晶粒計數(shù) 13.8 平均晶粒面積/場 13.9 單個晶粒面積 13.9.4 ALA 晶粒尺寸 13.9.8 兩相晶粒結(jié)構(gòu) 13.10 結(jié)果計算 14 測試報告 15精度和偏差 16 非等軸晶粒結(jié)構(gòu)樣品的晶粒尺寸 A1 正確和不正確的晶界描繪示例 A2

ASTM E1382-97 中可能用到的儀器設(shè)備

專題

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