ASTM D6617-00
用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的單項(xiàng)試驗(yàn)結(jié)果檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室偏差的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

Standard Practice for Laboratory Bias Detection Using Single Test Result from Standard Material

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

ASTM D6617-00

發(fā)布

2000年

發(fā)布單位

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM D6617-05

當(dāng)前最新

ASTM D6617-21

 

 

適用范圍

1.1 本實(shí)踐涵蓋了一種方法，用于根據(jù)用戶指定的 I 類誤差、用戶建立的測(cè)試方法精度，為 CS 及其 ARV 上單次實(shí)施測(cè)試方法所獲得的結(jié)果之間的差異建立可接受的公差帶。 、ARV 的標(biāo)準(zhǔn)誤差，以及實(shí)驗(yàn)室正在無偏差地執(zhí)行測(cè)試方法的假設(shè)。 注 1 在本實(shí)踐中，術(shù)語“用戶”指的是本實(shí)踐的使用者；術(shù)語“實(shí)驗(yàn)室”（見 1.1）是指執(zhí)行測(cè)試方法的組織或?qū)嶓w。
1.2 對(duì)于 1.1 中建立的公差帶，提出了一種方法來估計(jì)單個(gè)測(cè)試結(jié)果落在該區(qū)域之外的概率，以存在用戶指定大小的偏差（正或負(fù)）且被認(rèn)為是實(shí)際問題（即假設(shè)的假設(shè)不正確）的事件。
1.3 此做法適用于 ASTM 委員會(huì) D02 測(cè)試方法，該方法1.4 本實(shí)踐假設(shè)正態(tài)（高斯）模型足以描述和預(yù)測(cè)處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)的測(cè)量系統(tǒng)行為。注 2——雖然本實(shí)踐不包括在現(xiàn)場(chǎng)精度或重復(fù)性條件下，在同一 CS 上獲得多個(gè)結(jié)果的情況，所提出的統(tǒng)計(jì)概念是適用的。建議希望將這些概念應(yīng)用于所描述場(chǎng)景的用戶咨詢統(tǒng)計(jì)學(xué)家并參考實(shí)踐 D6299 中描述的 CS 方法。

專題

ASTM D6617-00相似標(biāo)準(zhǔn)

誰引用了ASTM D6617-00 更多引用