JIS R 7651:2024
碳材料晶格參數(shù)和晶粒尺寸的測(cè)量

Measurement of lattice parameters and crystallite sizes of carbon materials

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

JIS R 7651:2024

發(fā)布

2024年

發(fā)布單位

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)

當(dāng)前最新

JIS R 7651:2024

 

 

介紹

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于測(cè)量碳材料晶格參數(shù)和晶粒尺寸的方法。通過采用X射線衍射技術(shù)，詳細(xì)闡述了實(shí)驗(yàn)條件、數(shù)據(jù)處理方法及結(jié)果表示等內(nèi)容，確保不同實(shí)驗(yàn)室間的數(shù)據(jù)具有可比性。

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專題

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