晶面和晶向
本專題涉及晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)有122條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，晶面和晶向涉及到分析化學(xué)、金屬材料試驗(yàn)、半導(dǎo)體材料、整流器、轉(zhuǎn)換器、穩(wěn)壓電源、建筑物中的設(shè)施、光學(xué)設(shè)備、磁性材料、光學(xué)和光學(xué)測量、絕緣流體、頻率控制和選擇用壓電器件與介質(zhì)器件、鋼鐵產(chǎn)品、電子顯示器件、有色金屬、玻璃、半導(dǎo)體分立器件、有色金屬產(chǎn)品、廚房設(shè)備、建筑材料、試驗(yàn)、能源和熱傳導(dǎo)工程綜合、音頻、視頻和視聽工程、圖形符號、集成電路、微電子學(xué)、塑料、詞匯。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，晶面和晶向涉及到物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器綜合、金屬物理性能試驗(yàn)方法、半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、金屬無損檢驗(yàn)方法、化合物半導(dǎo)體材料、電力半導(dǎo)體器件、部件、、光學(xué)計(jì)量儀器、電工用鋼、金屬化學(xué)性能試驗(yàn)方法、鋼板、鋼帶、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、石英晶體、壓電元件、航空與航天用金屬鑄鍛材料、稀有分散金屬及其合金、元素半導(dǎo)體材料、其他電子元器件、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、儀器、儀表用材料和元件、鋼鐵產(chǎn)品綜合、炊事機(jī)具、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、環(huán)境條件與通用試驗(yàn)方法、電離輻射計(jì)量、金相檢驗(yàn)方法、微電路綜合、合成樹脂、塑料、電子元件綜合、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法。
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 37983-2019 晶體材料X射線衍射儀旋轉(zhuǎn)定向測試方法
- GB/T 34210-2017 藍(lán)寶石單晶晶向測定方法
- GB/T 1555-1997 半導(dǎo)體單晶晶向測定方法
- GB/T 1555-2023 半導(dǎo)體單晶晶向測定方法
- GB/T 1555-2009 半導(dǎo)體單晶晶向測定方法
- GB/T 39137-2020 難熔金屬單晶晶向測定方法
- GB/T 13388-1992 硅片參考面結(jié)晶學(xué)取向X射線測量方法
- GB/T 13388-2009 硅片參考面結(jié)晶學(xué)取向X射線測試方法
- GB/T 30653-2014 Ⅲ族氮化物外延片結(jié)晶質(zhì)量測試方法
- GB/T 5238-2009e 鍺單晶和鍺單晶片
- GB/T 5238-2019 鍺單晶和鍺單晶片
- GB/T 2521-1996 冷軋晶粒取向、無取向磁性鋼帶(片)
- GB/T 5238-2009 鍺單晶和鍺單晶片
- GB/T 30118-2013 聲表面波（SAW）器件用單晶晶片規(guī)范與測量方法
- GB/T 41751-2022 氮化鎵單晶襯底片晶面曲率半徑測試方法
- GB/T 31092-2014 藍(lán)寶石單晶晶錠
- GB/T 31092-2022 藍(lán)寶石單晶晶棒
- GB/T 15655-1995 超扭曲向列型液晶顯示器件分規(guī)范
- GB/T 5238-2009(英文版) 單晶鍺及單晶鍺片
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM F847-02 單晶硅片上平面晶體學(xué)取向的X射線測量方法
- ASTM F847-94(1999) 單晶硅片參考面結(jié)晶學(xué)取向X射線測量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM D1736-89 內(nèi)墻涂料的析晶傾向試驗(yàn)方法
- ASTM E82-91(1996) 測定金屬晶體取向的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E82/E82M-14 測定金屬晶體取向的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM E82-91(2007) 測定金屬晶體取向的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
- ASTM F47-94 晶硅晶體缺陷檢測方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- SJ/T 11500-2015 碳化硅單晶晶向的測試方法
- SJ 3244.3-1989 砷化鎵、磷化銦單晶晶向的測量方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 4192-1996 雙向晶閘管
- JB/T 7401-1994 平面平晶
- JB/T 7401-2024 平面平晶
- JB/T 5482-2011 X射線晶體定向儀
- JB/T 7619-1994 雙向三極晶閘管測試方法
- JB/T 5482-2004 X射線晶體定向儀 技術(shù)條件
- JB/T 7626-1994 反向阻斷三極晶閘管測試方法
- JB/T 7626-2013 反向阻斷三極晶閘管測試方法
中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- T/ZZB 0497-2018 聲表面波器件用單晶晶片
- T/SBX 040-2020 向列相熱致液晶光學(xué)各向異性的測定
- T/ZZB 0328-2018 電磁灶用微晶面板
- T/CBCSA 36-2021 晶剛玉多晶板材
- T/ZZB 0091-2016 地面用晶體硅光伏組件
- T/CVIA 003-2016 曲面液晶電視通用標(biāo)準(zhǔn)
- T/CVIA 52-2016 曲面液晶電視通用標(biāo)準(zhǔn)
- T/CSTM 00584-2022 建筑用晶體硅光伏屋面瓦
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS C 2553:2000 晶粒取向磁鋼薄板和鋼帶
- JIS C 6760:2014 表面聲波 (SAW) 器件用單晶晶片. 規(guī)范和測量方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-航空，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- HB 5255-1983 鋁合金晶間腐蝕及晶間腐蝕傾向的測定
- HB 7762-2005 航空發(fā)動機(jī)用定向凝固柱晶和單晶高溫合金錠規(guī)范
- HB 6742-1993 單晶葉片晶體取向的測定X射線背射勞厄照相法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- YB/T 5224-1993 晶粒取向硅鋼薄帶
- YB/T 4290-2012 金相檢測面上最大晶粒尺寸級別（ALA晶粒度）測定方法
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- NF C93-616:2013 表面聲波 (SAW) 器件用單晶晶片 - 規(guī)范和測量方法
- NF B30-004:1974 玻璃.水晶、水晶玻璃和晶狀體蛋白
- NF C93-616*NF EN 62276:2018 用于表面聲波（SAW）器件應(yīng)用的單晶晶片 規(guī)格和測量方法
- NF EN 61747-3:2007 液晶顯示器件 第3部分：液晶顯示(LCD)單元 截面規(guī)范
- NF B30-004:2023 水晶、水晶、聲音玻璃
CZ-CSN，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- CSN 35 8738-1964 晶體管． 反向電壓測量
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- HB 7762-2016 航空發(fā)動機(jī)用定向凝固柱晶和單晶高溫合金錠規(guī)范
俄羅斯標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST R 53934-2010 晶粒取向電工鋼帶.規(guī)范
- GOST 33212-2014 非晶粒定向電工鋼帶材. 規(guī)格
- GOST R 54480-2011 非晶粒取向電工鋼帶.技術(shù)規(guī)格
- GOST 18604.6-1974 晶體管.發(fā)射極反向電流的測量方法
- GOST R 50492-2015 塑料. 液態(tài)環(huán)氧樹脂. 結(jié)晶傾向的測定
- GOST 18604.4-1974 晶體管.集電極反向電流的測量方法
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- KS C 7100-1990(2001) 液晶面板公理
- KS D 3803-1994 晶粒取向磁鋼薄板及鋼帶
- KS D 0261-2012(2017) 用鏡面檢查硅晶片
- KS C IEC 61747-3-2022 液晶和固態(tài)顯示器件 第3部分：液晶顯示（LCD）單元截面規(guī)范
- KS C 7023-1986 測試方法為反向阻斷三極晶閘管
- KS C 7023-2020 反向阻斷三極晶閘管的測試方法
- KS C IEC 60747-6-2-2021 半導(dǎo)體器件 分立器件 第6部分：晶閘管 第二部分：雙向三極晶閘管（雙向晶閘管）的空白詳細(xì)規(guī)范 環(huán)境或外殼額定 高達(dá)100 A
- KS C 7023-1978 反向阻擋三極閘流晶體管試驗(yàn)法
- KS C 7023-1978(2013) 測試方法為反向阻斷三極晶閘管
- KS C 7100-2002 液晶顯示面板的一般規(guī)則
- KS M ISO 4895-2020 塑料 液體環(huán)氧樹脂 結(jié)晶傾向的測定
- KS M ISO 4895-2010(2020) 塑料液態(tài)環(huán)氧樹脂結(jié)晶傾向的測定
- KS C 7101-1995(2000) 液晶顯示面板的測量方法
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- BS EN 61747-2:1999 液晶和固態(tài)顯示裝置 液晶顯示模塊 截面規(guī)格
- PAS 62276-2001 用于表面聲波器件的單晶晶片-規(guī)范和測量方法（1.0版）
- BS 9343:1977 質(zhì)量評估半導(dǎo)體器件詳細(xì)規(guī)范的編制規(guī)則：外殼額定雙向三極晶閘管（雙向晶閘管）
- BS EN ISO 4895:2014 塑料.液態(tài)環(huán)氧樹脂.結(jié)晶傾向的測定
- 14/30277719 DC BS EN 61747-2 液晶顯示裝置 第2部分.液晶顯示模塊 截面規(guī)格
BE-NBN，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- NBN A 23-112-1988 具有磁性的晶粒取向鋼帶和鋼板
- NBN A 23-111-1987 具有磁性的冷軋非晶粒取向鋼帶和鋼板
美國通用公司（北美），關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- GM GM276M-1996 端面晶粒巴爾杉木
意大利統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- UNI EU 107:1988 晶粒取向磁鋼薄板及鋼帶
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- DS/EN 62276:2013 用于表面聲波（SAW）器件應(yīng)用的單晶晶片 規(guī)格和測量方法
- DANSK DS/EN 62276:2016 用于表面聲波（SAW）器件應(yīng)用的單晶晶片 規(guī)格和測量方法
- DS/EN ISO 4895:1999 塑料 液態(tài)環(huán)氧樹脂 結(jié)晶傾向的測定
歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- CEN EN 10302-2008_ 抗蠕變鋼和鎳鈷定向凝固共晶合金
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-輕工，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- QB/T 4831-2015 電磁灶用微晶面板
西班牙標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-EN 62276:2016 用于表面聲波(SAW)器件應(yīng)用的單晶晶片 規(guī)格和測量方法
- UNE 43603:1979 玻璃、術(shù)語和術(shù)語 水晶 水晶杯
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN EN 62276:2017-08 用于表面聲波（SAW）器件應(yīng)用的單晶晶片 規(guī)格和測量方法
- DIN EN IEC 62276:2023-05 用于表面聲波（SAW）器件應(yīng)用的單晶晶片 規(guī)格和測量方法
- DIN EN 62276:2017 用于表面聲波（SAW）器件應(yīng)用的單晶晶片 規(guī)格和測量方法（IEC 62276:2016）
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO/IWA 43:2023 玻璃類型 水晶玻璃、水晶和鉛水晶 規(guī)格和試驗(yàn)方法
- IWA 43:2023 玻璃類型 水晶玻璃、水晶和鉛水晶 規(guī)格和測試方法
- PRF IWA 43:2023 玻璃類型 水晶玻璃、水晶和鉛水晶 規(guī)格和測試方法
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- EN 62276:2013 用于表面聲波（SAW）器件應(yīng)用的單晶晶片 規(guī)格和測量方法
海灣阿拉伯國家合作委員會標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO IEC 62276:2014 用于表面聲波（SAW）應(yīng)用的單晶晶片 技術(shù)規(guī)格和測量方法
- GSO ISO 4895:2016 塑料 液體環(huán)氧樹脂 結(jié)晶傾向的測定
意大利電工委員會，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- CEI EN 62276:2017 用于表面聲波（SAW）器件應(yīng)用的單晶晶片 規(guī)格和測量方法
阿曼規(guī)格和計(jì)量局，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- OS GSO IEC 62276:2014 用于表面聲波（SAW）器件應(yīng)用的單晶晶片 規(guī)格和測量方法
- OS GSO IEC 61747-3:2014 液晶顯示器件 第3部分：液晶顯示 (LCD) 單元 截面規(guī)范
- OS GSO ISO 4895:2016 塑料 液體環(huán)氧樹脂 結(jié)晶傾向的測定
歐洲電工標(biāo)準(zhǔn)化委員會，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- EN 62276:2016 用于表面聲波（SAW）器件應(yīng)用的單晶晶片 規(guī)格和測量方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-民用航空，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- MH/T 6102-2014 化學(xué)處理致飛機(jī)金屬晶間腐蝕和端面晶粒點(diǎn)蝕的試驗(yàn)方法
國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- JJF 1256-2010 X射線單晶體定向儀校準(zhǔn)規(guī)范
YU-JUS，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- JUS N.R1.621-1983 雙向晶閘管（三端雙向可控硅元件）．測量方法
- JUS G.S1.812-1991 塑料．液態(tài)環(huán)氧樹脂．結(jié)晶傾向測定
ANSI - American National Standards Institute，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- Z80.30-2018 眼科 復(fù)曲面人工晶狀體
- Z80.30-2010 眼科 復(fù)曲面人工晶狀體（VC）
立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- LST EN 62276-2013 用于表面聲波（SAW）器件應(yīng)用的單晶晶片 規(guī)格和測量方法（IEC 62276:2012）
- LST EN 62276-2006 用于表面聲波（SAW）器件應(yīng)用的單晶晶片 規(guī)格和測量方法（IEC 62276:2005）
RO-ASRO，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- STAS E 11508-1989 電工學(xué)中的無取向晶粒冷軋鋼板
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- SN/T 3112-2012 冷軋硅鋼片晶粒取向性鑒別方法
臺灣地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- CNS 6809-1989 晶體管外形圖面之畫法
國際電工委員會，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- IEC PAS 62084:1998 叩焊晶片和晶片標(biāo)度技術(shù)的執(zhí)行
美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- ANSI Z80.30-2010 眼科 復(fù)曲面人工晶狀體
- ANSI Z80.30-2018 眼科 復(fù)曲面人工晶狀體
JP-JEITA，關(guān)于晶面和晶向的標(biāo)準(zhǔn)
- JEITA ET7501-105-2006 表面安裝裝置用地面類型設(shè)計(jì)指南(四個(gè)方向帶有J字頭的晶片載體)
可能用到的儀器設(shè)備
