納米薄膜儀
本專題涉及納米薄膜儀的標(biāo)準(zhǔn)有30條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，納米薄膜儀涉及到長(zhǎng)度和角度測(cè)量、分析化學(xué)、玻璃、機(jī)械試驗(yàn)、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、詞匯、物理學(xué)、化學(xué)、橡膠和塑料制品、電子元器件綜合、光學(xué)設(shè)備。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，納米薄膜儀涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、工業(yè)技術(shù)玻璃、物理學(xué)與力學(xué)、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、合成樹脂、塑料、電子元件綜合、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、稀有金屬及其合金分析方法。
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于納米薄膜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 36969-2018 納米技術(shù) 原子力顯微術(shù)測(cè)定納米薄膜厚度的方法
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于納米薄膜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 33826-2017 玻璃襯底上納米薄膜厚度測(cè)量 觸針式輪廓儀法
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于納米薄膜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 30447-2013 納米薄膜接觸角測(cè)量方法
- GB/T 25898-2010 儀器化納米壓入試驗(yàn)方法 薄膜的壓入硬度和彈性模量
- GB/T 22462-2008 鋼表面納米、亞微米尺度薄膜.元素深度分布的定量測(cè)定.輝光放電原子發(fā)射光譜法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于納米薄膜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 23170-2022 表面化學(xué)分析.深度剖面.用中能離子散射法對(duì)硅襯底上納米級(jí)重金屬氧化物薄膜進(jìn)行無損深度剖面
- IEC/TR 63258:2021 納米技術(shù).評(píng)估納米薄膜厚度的橢偏儀應(yīng)用指南
- ISO/TS 80004-11-2017 納米技術(shù) - 詞匯 - 第11部分:納米層 納米涂層 納米薄膜和相關(guān)術(shù)語
- IEC/TS 62607-2-1:2012 納米制造.碳納米管薄膜應(yīng)用的關(guān)鍵控制特性.電阻率.第2-1部分:
國(guó)際電工委員會(huì)，關(guān)于納米薄膜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- IEC TR 63258:2021 納米技術(shù).用于評(píng)估納米薄膜厚度的橢偏儀應(yīng)用指南
- IEC TR 63258-2021 納米技術(shù).用于評(píng)估納米薄膜厚度的橢偏儀應(yīng)用指南
- IEC TS 62607-5-3:2020 納米制造關(guān)鍵控制特性第5-3部分:薄膜有機(jī)/納米電子器件電荷載流子濃度的測(cè)量
- IEC TS 62607-5-3-2020 納米制造關(guān)鍵控制特性第5-3部分:薄膜有機(jī)/納米電子器件電荷載流子濃度的測(cè)量
- IEC TS 62607-5-1:2014 納米制造關(guān)鍵控制特性第5-1部分:薄膜有機(jī)/納米電子器件載流子傳輸測(cè)量
- IEC TS 62607-5-1-2014 納米制造關(guān)鍵控制特性第5-1部分:薄膜有機(jī)/納米電子器件載流子傳輸測(cè)量
- IEC/TS 62607-5-1-2014 納米制造.關(guān)鍵控制特性.第5-1部分:薄膜有機(jī)/納米電子設(shè)備.載體運(yùn)輸測(cè)量
- IEC TS 62607-2-1-2012 納米制造.關(guān)鍵控制特性.第2-1部分:碳納米管材料.薄膜電阻
- IEC TS 62607-2-1:2012 納米制造.關(guān)鍵控制特性.第2-1部分:碳納米管材料.薄膜電阻
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于納米薄膜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN CEN ISO/TS 80004-11-2020 納米技術(shù). 詞匯. 第11部分: 納米層、納米涂層、納米薄膜和相關(guān)術(shù)語(ISO/TS 80004-11-2017); 德文版 CEN ISO/TS 80004-11-2020
- DIN IEC/TS 62607-5-1-2014 納米加工.關(guān)鍵控制特性.第5-1部分:薄膜有機(jī)/納米電子設(shè)備.載體運(yùn)輸測(cè)量(IEC 113/183/CD-2013)
，關(guān)于納米薄膜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- PNST 60-2015 高分子共擠壓薄膜改性納米復(fù)合材料通用規(guī)格
- PNST 60-2015 高分子共擠壓薄膜改性納米復(fù)合材料通用規(guī)格
- GOST R 8.698-2010 確保測(cè)量一致性的國(guó)家體系.納米粒子和薄膜的空間參數(shù).利用小角度X-射線散射衍射儀的測(cè)量方法
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于納米薄膜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- BS PD IEC/TS 62607-5-1-2014 納米制造. 關(guān)鍵控制特性. 有機(jī)薄膜/納米電子器件. 載波傳輸測(cè)量
美國(guó)通用公司（全球），關(guān)于納米薄膜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- GMW GMW16170-2011 薄膜.納米厚度(NT)的預(yù)處理一般質(zhì)量要求.第2次出版(英文版本)
美國(guó)通用公司（北美），關(guān)于納米薄膜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- GM 9986321-2008 薄膜.納米厚度(NT)預(yù)處理通用質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)
韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于納米薄膜儀的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D 2715-2006 單晶硅和多晶硅納米/微薄膜拉伸的試樣
- KS D 2715-2006 單晶硅和多晶硅納米/微薄膜拉伸的試樣
