光譜測(cè)試方法
本專(zhuān)題涉及光譜測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)有7條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，光譜測(cè)試方法涉及到半導(dǎo)體材料、金屬材料試驗(yàn)、輻射防護(hù)。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，光譜測(cè)試方法涉及到半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、金屬物理性能試驗(yàn)方法、半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法。
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于光譜測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 24578-2009 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測(cè)試方法
- GB/T 34190-2017 電工鋼表面涂層的重量（厚度） X射線光譜測(cè)試方法
- GB/T 24578-2015 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測(cè)試方法
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于光譜測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)
- NF EN ISO 13161:2020 水質(zhì)釙210阿爾法光譜測(cè)試方法
- NF ISO 4722-1:2023 水質(zhì) 釷 232 第 1 部分：α 光譜測(cè)試方法
國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)-總裝備部，關(guān)于光譜測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)
- GJB 10134-2021 偽裝織物光譜反射率測(cè)試方法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于光譜測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO/CD 19383:2023 水質(zhì)—鐳226—α光譜法測(cè)試方法
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可能用到的儀器設(shè)備
