x射線單晶定向儀
本專題涉及x射線單晶定向儀的標準有26條。
國際標準分類中，x射線單晶定向儀涉及到光學(xué)和光學(xué)測量、分析化學(xué)、化工產(chǎn)品、金屬生產(chǎn)、金屬材料試驗、教育、半導(dǎo)體材料、陶瓷、黑色金屬、無機化學(xué)。
在中國標準分類中，x射線單晶定向儀涉及到電離輻射計量、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器綜合、基礎(chǔ)標準與通用方法、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、化學(xué)計量、、金屬化學(xué)分析方法綜合、教學(xué)專用儀器、電工用鋼、教育、學(xué)位、學(xué)銜、金屬無損檢驗方法、無機鹽。
國家計量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- JJF 1256-2010 X射線單晶體定向儀校準規(guī)范
行業(yè)標準-機械，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- JB/T 5482-2011 X射線晶體定向儀
- JB/T 5482-2004 X射線晶體定向儀 技術(shù)條件
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- GB/T 37983-2019 晶體材料X射線衍射儀旋轉(zhuǎn)定向測試方法
行業(yè)標準-航空，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- HB 6742-1993 單晶葉片晶體取向的測定X射線背射勞厄照相法
國家計量檢定規(guī)程，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- JJG 629-2014 多晶X射線衍射儀檢定規(guī)程
- JJG 629-1989 多晶X射線衍射儀檢定規(guī)程
- JJG(地質(zhì)) 1014-1990 多晶X-射線衍射儀檢定規(guī)程
機械電子工業(yè)部，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- JB/T 5982-1991 X射線定向儀技術(shù)條件
日本工業(yè)標準調(diào)查會，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- JIS H 7805:2005 用X射線衍射儀測定金屬晶體中晶粒大小的方法
行業(yè)標準-教育，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- JY/T 0588-2020 單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則
- JY/T 008-1996 四圓單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- ASTM F847-94(1999) 單晶硅片參考面結(jié)晶學(xué)取向X射線測量的標準試驗方法
- ASTM E975-03(2008) 近隨機結(jié)晶定向鋼中殘留奧氏體的X射線測定標準實施規(guī)程
- ASTM E975-03 近隨機結(jié)晶定向鋼中殘留奧氏體的X射線測定標準實施規(guī)程
- ASTM E975-00 X射線測定近似隨機晶體取向鋼中殘留奧氏體的標準實踐
- ASTM E975-13 近隨機結(jié)晶定向鋼中殘留奧氏體的X射線測定的標準實施規(guī)程
- ASTM E975-22 近隨機結(jié)晶取向鋼中殘余奧氏體的X射線測定的標準試驗方法
行業(yè)標準-商品檢驗，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- SN/T 3514-2013 電工鋼晶粒取向與無取向鑒定方法 X射線衍射測定織構(gòu)法
國際標準化組織，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- ISO 22278:2020 精細陶瓷（高級陶瓷 高級工業(yè)陶瓷）.用平行X射線束X射線衍射法測定單晶薄膜（晶片）結(jié)晶質(zhì)量的試驗方法
英國標準學(xué)會，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- BS ISO 22278:2020 精細陶瓷（先進陶瓷、先進技術(shù)陶瓷） 采用平行X射線束X射線衍射法測定單晶薄膜（晶片）結(jié)晶質(zhì)量的測試方法
- 20/30360821 DC BS ISO 22278 精細陶瓷（高級陶瓷、先進技術(shù)陶瓷） 采用平行X射線束X射線衍射法測定單晶薄膜（晶片）結(jié)晶質(zhì)量的測試方法
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- GB/T 19421.1-2003 層狀結(jié)晶二硅酸鈉試驗方法 δ相層狀結(jié)晶二硅酸鈉定性分析 X射線衍射儀法
KR-KS，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化學(xué)分析-全反射X射線熒光分析儀測定硅晶片表面元素雜質(zhì)
澳大利亞標準協(xié)會，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- ISO 5861:2024 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜.石英晶體單色AlKαXPS儀器強度校準方法
SCC，關(guān)于x射線單晶定向儀的標準
- BS ISO 5861:2024 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法 石英晶體單色AlKαXPS儀器強度校準方法
