珍珠粉x射線衍射分析法
本專題涉及珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)有52條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，珍珠粉x射線衍射分析法涉及到化工產(chǎn)品、分析化學(xué)、有色金屬、耐火材料、金屬材料試驗、輻射防護(hù)、建筑材料、半導(dǎo)體材料、光學(xué)和光學(xué)測量、無機(jī)化學(xué)、電站綜合、職業(yè)安全、工業(yè)衛(wèi)生、無損檢測、空氣質(zhì)量、教育。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，珍珠粉x射線衍射分析法涉及到化妝品、化學(xué)試劑綜合、輕金屬及其合金分析方法、其他非金屬礦、耐火材料綜合、硅質(zhì)耐火材料、重金屬及其合金分析方法、金屬物理性能試驗方法、金屬無損檢驗方法、通用核儀器、水泥、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、無機(jī)化工原料綜合、、放射衛(wèi)生防護(hù)、電力試驗技術(shù)、石油地質(zhì)勘探、金相檢驗方法、工業(yè)防塵防毒技術(shù)、生產(chǎn)環(huán)境安全衛(wèi)生設(shè)施、教學(xué)專用儀器。
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 36923-2018 珍珠粉鑒別方法 X射線衍射分析法
- GB/T 40407-2021 硅酸鹽水泥熟料礦相X射線衍射分析方法
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- KS M 0043-2009 X射線衍射分析法
- KS M 0043-2009(2019) X射線衍射分析的一般規(guī)則
PT-IPQ，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- E E 14-1971 X射線衍射分析
工業(yè)和信息化部，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- YS/T 1178-2017 鋁渣物相分析X射線衍射法
- YB/T 172-2020 硅磚定量相分析 X射線衍射法
- YS/T 1344.3-2020 摻錫氧化銦粉化學(xué)分析方法 第3部分：物相分析 X射線衍射分析法
- YS/T 1160-2016 工業(yè)硅粉定量相分析 二氧化硅含量的測定 X射線衍射K值法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-地質(zhì)，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- DZ/T 0416-2022 海水珍珠與淡水珍珠的鑒別 X射線熒光光譜法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-農(nóng)業(yè)，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- 2355藥典 二部-2010 附錄Ⅸ F X射線粉末衍射法
- 57藥典 四部-2020 0451 X射線衍射法
- 77藥典 四部-2015 0451 X射線衍射法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- YB/T 172-2000 硅磚定量相分析.X射線衍射法
- YB/T 5320-2006 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法
- YB/T 5336-2006 高速鋼中碳化物相的定量分析 X射線衍射儀法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- SN/T 4008-2013 滑石粉快速定性篩選 粉末X射線衍射法
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E3294-22 用粉末X射線衍射法對地質(zhì)材料進(jìn)行法醫(yī)分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E3294-23 用粉末X射線衍射法對地質(zhì)材料進(jìn)行法醫(yī)學(xué)分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 5225-1985 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法
- GB/T 30904-2014 無機(jī)化工產(chǎn)品 晶型結(jié)構(gòu)分析 X射線衍射法
- GB 16355-1996 X射線衍射儀和熒光分析儀放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 8359-1987 高速鋼中碳化物相的定量分析 X射線衍射儀法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- EJ/T 553-1991 礦物晶胞參數(shù)的測定粉末x射線衍射法
美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- ANSI N43.2-2001 X射線衍射和熒光分析設(shè)備的輻射安全
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 0131:1996 X射線衍射計測量分析的通用規(guī)則
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 11144-2011 X射線衍射儀
GSO，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- NB/SH/T 0972-2018 SAPO-11分子篩晶胞參數(shù)的測定 粉末X射線衍射法
- NB/SH/T 0971-2018 SAPO-11分子篩相對結(jié)晶度的測定 粉末X射線衍射法
- GSO ISO 12677:2014 X射線熒光熱產(chǎn)品化學(xué)分析 -熔鑄珠法
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 無損檢測 X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗方法
- DIN EN 15305:2009-01 無損檢測 X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗方法
- DIN EN 15305:2009 無損檢測.X射線衍射法對殘余應(yīng)力分析用試驗方法
- DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 無損檢驗 使用X射線衍射法進(jìn)行分析殘余應(yīng)力分析的試驗方法
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- NF EN 15305:2009 無損檢測 X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗方法
- NF EN ISO 12677:2011 X射線熒光法耐火材料化學(xué)分析-熔珠法
SCC，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- DANSK DS/EN 15305:2008 無損檢測.X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗方法
- NS-EN 15305:2008 無損檢測 X 射線衍射殘余應(yīng)力分析的測試方法
- AENOR UNE-EN 15305:2010 無損檢測-X射線衍射殘余應(yīng)力分析的測試方法
- DANSK DS/EN 15305/AC:2009 無損檢測-X射線衍射殘余應(yīng)力分析的測試方法
- 05/30137047 DC EN 15305 無損檢測 X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電力，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- DL/T 1151.22-2012 火力發(fā)電廠垢和腐蝕產(chǎn)物分析方法.第22部分：X-射線熒光光譜和X-射線衍射分析
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-石油，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- SY/T 5163-1995 沉積巖粘土礦物相對含量X射線衍射分析方法
衛(wèi)生部國家職業(yè)衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- GBZ 115-2002 X射線衍射和熒光分析儀衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- BS EN 15305:2008(2009) 無損檢測 X 射線衍射殘余應(yīng)力分析的試驗方法
- BS ISO 16258-2:2015 工作場所空氣. 使用X射線衍射法分析可吸入石英. 間接分析法
西班牙標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- UNE-EN 15305:2010 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗方法
丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- DS/EN 15305:2008 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗方法
- DS/EN 15305/AC:2009 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗方法
立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- LST EN 15305-2008/AC-2009 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗方法
- LST EN 15305-2008 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于珍珠粉x射線衍射分析法的標(biāo)準(zhǔn)
- JY/T 0587-2020 多晶體X射線衍射方法通則
