碳化硅單晶拋光片
本專題涉及碳化硅單晶拋光片 的標(biāo)準(zhǔn)有8條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，碳化硅單晶拋光片 涉及到半導(dǎo)體材料、金屬材料試驗(yàn)。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，碳化硅單晶拋光片 涉及到化合物半導(dǎo)體材料、、金屬無損檢驗(yàn)方法。
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于碳化硅單晶拋光片 的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 30656-2023 碳化硅單晶拋光片
- GB/T 30656-2014 碳化硅單晶拋光片
- GB/T 31351-2014 碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于碳化硅單晶拋光片 的標(biāo)準(zhǔn)
- SJ/T 11502-2015 碳化硅單晶拋光片規(guī)范
- SJ/T 11504-2015 碳化硅單晶拋光片表面質(zhì)量的測試方法
- SJ/T 11503-2015 碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測試方法
中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于碳化硅單晶拋光片 的標(biāo)準(zhǔn)
- T/IAWBS 005-2018 6 英寸碳化硅單晶拋光片
- T/IAWBS 014-2021 碳化硅單晶拋光片位錯(cuò)密度的測試方法
