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Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

Für die Wie misst ein Mikroskop die Tiefe? gibt es insgesamt 113 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Wie misst ein Mikroskop die Tiefe? die folgenden Kategorien: Optik und optische Messungen, Optische Ausrüstung, Physik Chemie, Textilfaser, Oberfl?chenbehandlung und Beschichtung, L?ngen- und Winkelmessungen, Kernenergietechnik, Holzverarbeitungstechnologie, Farben und Lacke, Luftqualit?t, Pulvermetallurgie, Mikrobiologie, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Nichteisenmetalle.

Association of German Mechanical Engineers, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Optische Vermessung und Mikrotopographien – Kalibrierung von Interferenzmikroskopen und Tiefenmessnormalen zur Rauheitsmessung
• VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Optische Messung der Mikrotopographie – Kalibrierung von konfokalen Mikroskopen und Tiefeneinstellnormalen zur Rauheitsmessung

TH-TISI, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• TIS 1083-1992 Standard zur Messung der Schichtdicke mittels mikroskopischer Methode

British Standards Institution (BSI), Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• BS ISO 19056-1:2015 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Bildhelligkeit und Gleichm??igkeit in der Hellfeldmikroskopie
• BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
• 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
• 20/30395419 DC BS EN ISO 1463. Metall- und Oxidbeschichtungen. Messung der Schichtdicke. Mikroskopische Methode
• BS ISO 8672:2014 Luftqualit?t. Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie. Membranfiltermethode
• BS EN 12373-3:1999 Aluminium und Aluminiumlegierungen – Anodisieren – Teil 3: Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsbeschichtungen – zerst?rungsfreie Messung mit einem Spaltstrahlmikroskop. Ratifizierter europ?ischer Text

Group Standards of the People's Republic of China, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• T/CSTM 00003-2019 Dickenmessungen zweidimensionaler Materialien Rasterkraftmikroskopie (AFM)

VN-TCVN, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• TCVN 6035-1995 Textilien.Baumwollfasern.Bewertung der Reife.Mikroskopische Methode
• TCVN 6504-1999 Luftqualit?t.Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie.Membranfilterverfahren

International Organization for Standardization (ISO), Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• ISO 4912:1981 Textilien; Baumwollfasern; Reifebewertung; Mikroskopische Methode
• ISO 19056-1:2015 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 1: Bildhelligkeit und Gleichm??igkeit in der Hellfeldmikroskopie
• ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
• ISO 8672:2014 Luftqualit?t – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern mittels Phasenkontrast-Lichtmikroskopie – Membranfilterverfahren
• ISO 8672:1993 Luftqualit?t; Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie; Membranfilterverfahren
• ISO 6441-2:1999 Farben und Lacke – Bestimmung der Mikroeindringh?rte – Teil 2: Knoop-H?rte durch Messung der Eindringtiefe unter Belastung

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• GB/T 6462-2005 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• GB/T 31227-2014 Prüfverfahren für die Oberfl?chenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop für gesputterte Dünnfilme
• GB/T 32282-2015 Messung der Versetzungsdichte in Galliumnitrid-Einkristallen mittels Kathodolumineszenzmikroskopie
• GB/T 8014.3-2005 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Die Methode zur Messung der Dicke von anodischen Oxidbeschichtungen Teil 3: Spaltstrahlmikroskop-Methode
• GB/T 27760-2011 Testmethode zur Kalibrierung der Z-Vergr??erung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung einatomiger Si(111)-Schritte

SE-SIS, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• SIS SS-ISO 1463:1983 Metall- und Oxidschichten – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• SIS SMS 2953-1971 Messung von Metall- und Oxidschichtdicken durch mikroskopische Untersuchung von Querschnitten

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• KS D 8544-2006 Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
• KS D 8544-2016(2021) Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
• KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D 8519-2009(2015) Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – mikroskopische Methode
• KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS M ISO 6441-2:2002 Farben und Lacke – Bestimmung der Mikro-Eindruckh?rte – Teil 2: Knoop-H?rte durch Messung der Eindrucktiefe unter Last
• KS M ISO 6441-2:2005 Farben und Lacke – Bestimmung der Mikro-Eindruckh?rte – Teil 2: Knoop-H?rte durch Messung der Eindrucktiefe unter Last
• KS I ISO 8672:2006 Luftqualit?t – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie (Membranfiltermethode)
• KS I ISO 8672:2021 Luftqualit?t – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie – Membranfiltermethode
• KS I ISO 8672-2006(2017) Luftqualit?t – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie (Membranfiltermethode)
• KS D 8310-2001(2016) Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Masse pro Fl?cheneinheit (Oberfl?chendichte) von anodischen Oxidbeschichtungen (gravimetrische Methode) und Bestimmung der Dicke von anodischen Oxidbeschichtungen (nicht bestimmt).
• KS D 8310-2001(2021) Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Masse pro Fl?cheneinheit (Oberfl?chendichte) von anodischen Oxidbeschichtungen (gravimetrische Methode) und Bestimmung der Dicke von anodischen Oxidbeschichtungen (nicht bestimmt).

ZA-SANS, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• SANS 144:1982 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode

Association Francaise de Normalisation, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• NF A91-110:2004 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode.
• NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
• NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• NF T16-404:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgr??en- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• NF T70-360:2007 Energetische Materialien für die Verteidigung – Physikalisch-chemische Analysen und Eigenschaften – Messung der Eindringtiefe von Weichmachern und/oder Abschreckungsmitteln – Methode durch Mikroskopie
• NF X43-050:2021 Luftqualit?t – Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie – Indirekte Methode
• NF X43-050:1996 Luftqualit?t. Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie. Indirekte Methode.
• NF EN ISO 4507:2007 Gesinterte, einsatzgeh?rtete oder karbonitrierte Eisenwerkstoffe – Bestimmung und überprüfung der Einsatzh?rtetiefe durch Messung der Mikroh?rte
• NF A91-481*NF EN ISO 2128:2010 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerst?rungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
• NF A91-455-3:1999 Aluminium und Aluminiumlegierungen. Eloxieren. Teil 3: Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten. Zerst?rungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop.

European Committee for Standardization (CEN), Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
• EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
• prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
• EN 12373-3:1998 Aluminium und Aluminiumlegierungen – Anodisieren – Teil 3: Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsbeschichtungen – zerst?rungsfreie Messung mit einem Spaltstrahlmikroskop. Ratifizierter europ?ischer Text

Danish Standards Foundation, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• DS/EN ISO 1463:1994 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• DS/EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
• DS/EN ISO 2128:2010 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerst?rungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop

German Institute for Standardization, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
• DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
• DIN EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Mikroskopisches Verfahren (ISO 1463:2021); Deutsche Fassung EN ISO 1463:2021
• DIN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:1988); Deutsche Fassung EN ISO 9220:1994
• DIN EN ISO 2128:2010-12 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen - Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten - Zerst?rungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010); Deutsche Fassung EN ISO 2128:2010
• DIN EN 12373-3:1999 Aluminium und Aluminiumlegierungen - Anodisieren - Teil 3: Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten; zerst?rungsfreie Messung mittels Split-Beam-Mikroskop; Deutsche Fassung EN 12373-3:1998

ES-UNE, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• UNE-EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
• UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)

CZ-CSN, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• CSN ISO 1463:1993 Metall- und Oxidbeschichtungen. Messung der Schichtdicke. Mikroskopische Methode

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• GB/T 40066-2021 Nanotechnologien – Dickenmessung von Graphenoxid – Rasterkraftmikroskopie (AFM)

PH-BPS, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• PNS ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgr??en- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Professional Standard - Nuclear Industry, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• EJ/T 20176-2018 Rasterkraftmikroskop-Messmethode zur Kantensch?rfe von Diamantwerkzeugen

未注明發(fā)布機構, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• DIN EN ISO 1463 E:2020-06 Microscopic method for measuring coating thickness of metallic and oxide coatings (draft)

PT-IPQ, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• NP 3563-1988 Textilien Baumwollfasern. Bewertung der Reife. Mikroskopische Methode

AENOR, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).
• UNE-EN ISO 1463:2005 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2003)
• UNE-EN ISO 2128:2011 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerst?rungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010)

Lithuanian Standards Office , Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)
• LST EN ISO 1463:2004 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2003)
• LST EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
• LST ISO 8672:2001 Luftqualit?t. Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie. Membranfiltermethode
• LST EN ISO 2128:2011 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerst?rungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010)

AT-ON, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• OENORM EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
• OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

CH-SNV, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• SN EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
• VSM 34130-1934 Eloxieren von Aluminium und Aluminiumlegierungen. Bestimmung der Dicke des anodischen Oxidfilms. Zerst?rungsfreie Messungen mittels Strahlteilungsmikroskopie
• VSM 18653.1-1965 Eloxieren von Aluminium und Aluminiumlegierungen. Bestimmung der Dicke des anodischen Oxidfilms. Zerst?rungsfreie Messungen mittels Strahlteilungsmikroskopie

American Society for Testing and Materials (ASTM), Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• ASTM D5235-13 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
• ASTM D5235-14 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
• ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM D5235-18 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
• ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM D5235-97 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
• ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM B748-90(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM B934-21 Standardtestmethode für die effektive H?rtetiefe von Teilen aus der Eisenpulvermetallurgie (PM) unter Verwendung von Mikroindentationsh?rtemessungen
• ASTM F3294-18 Standardhandbuch für die Durchführung quantitativer Fluoreszenzintensit?tsmessungen in zellbasierten Assays mit Weitfeld-Epifluoreszenzmikroskopie
• ASTM B487-20 Standardtestmethode zur Messung der Dicke von Metall- und Oxidbeschichtungen durch mikroskopische Untersuchung des Querschnitts
• ASTM B588-88(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke transparenter oder undurchsichtiger Beschichtungen mittels Doppelstrahl-Interferenzmikroskoptechnik
• ASTM B487-85(1997) Standardtestverfahren zur Messung der Dicke von Metall- und Oxidbeschichtungen durch mikroskopische Untersuchung eines Querschnitts

NO-SN, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• NS 1181-1979 Metall- und Oxidbeschichtungen – Messung der Dicke durch mikroskopische Untersuchung von Querschnitten

KR-KS, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• KS M ISO 6441-2-2002 Farben und Lacke – Bestimmung der Mikro-Eindruckh?rte – Teil 2: Knoop-H?rte durch Messung der Eindrucktiefe unter Last
• KS I ISO 8672-2021 Luftqualit?t – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie – Membranfiltermethode

IT-UNI, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• UNI 6500-1969 Anodische Oxidationsbeschichtung aus Aluminium und seinen Legierungen. Messung der Belagdicke mit einem optischen Mikroskop

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• GB/T 34879-2017 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Metrologische Eigenschaften und Leitfaden zur Messunsicherheit für optische konfokale Mikroskope

RU-GOST R, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• GOST R 8.700-2010 Staatliches System zur Gew?hrleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Methode zur Messung der effektiven H?he der Oberfl?chenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• JIS H 8680-3:1998 Prüfverfahren für die Dicke anodischer Oxidschichten auf Aluminium und Aluminiumlegierungen – Teil 3: Zerst?rungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop

PL-PKN, Wie misst ein Mikroskop die Tiefe?

• PN Z04097 Arkusz 01-1974 Luftreinheitsschutz Tests zur Gr??enzusammensetzung von Staub Messung der quantitativen Verteilung der projektiven Staubpartikelgr??e ^2 (im mit Mikroskop ohne Verwendung von Immersionsflüssigkeit).

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