IEC 62321-4:2013+AMD1:2017 CSV
電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定第4部分:用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞

Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 4: Mercury in polymers, metals and electronics by CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES and ICP-MS

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號

IEC 62321-4:2013+AMD1:2017 CSV

發(fā)布

2017年

總頁數(shù)

31頁

發(fā)布單位

國際電工委員會

替代標(biāo)準(zhǔn)

IEC 62321-4:2017

當(dāng)前最新

IEC 62321-4:2017

 

 

標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 - 第4部分：通過CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞

適用范圍：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用冷蒸汽原子吸收光譜法（CV-AAS）、冷蒸汽原子熒光光譜法（CV-AFS）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）和電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）測定電工產(chǎn)品中聚合物、金屬和電子產(chǎn)品中的汞含量的方法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于電工產(chǎn)品中汞含量的測定，涵蓋了樣品的前處理、儀器設(shè)備的選擇、校準(zhǔn)曲線的建立、樣品的測量以及結(jié)果的計(jì)算等內(nèi)容。通過本標(biāo)準(zhǔn)，可以確保電工產(chǎn)品中汞含量的準(zhǔn)確測定，符合環(huán)保和安全要求。

其他標(biāo)準(zhǔn)

專題

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