IEEE Std 802.15.4-2020/Cor 1-2022 (Corrigendum to IEEE Std 802.15.4-2020 as amended by IEEE Std 802.
測(cè)定钚中雜質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法：酸溶解、離子交換基質(zhì)分離和電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜（ICP/AES）分析

IEEE Standard for Low-Rate Wireless Networks Corrigendum 1: Correction of Errors Preventing Backward Compatibility

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

IEEE Std 802.15.4-2020/Cor 1-2022 (Corrigendum to IEEE Std 802.15.4-2020 as amended by IEEE Std 802.

發(fā)布

2023年

發(fā)布單位

美國(guó)電氣電子工程師學(xué)會(huì)

 

 

適用范圍

本勘誤表更正了 IEEE Std 802.15.4-2020 及其修正案中的錯(cuò)誤、不一致和歧義。 （該標(biāo)準(zhǔn)的 PDF 版本可免費(fèi)獲得 IEEE GET 計(jì)劃的補(bǔ)充，網(wǎng)址為 https://ieeexplore.ieee.org/browse/standards/get-program/page/series?id=68）

IEEE Std 802.15.4-2020/Cor 1-2022 (Corrigendum to IEEE Std 802.15.4-2020 as amended by IEEE Std 802.相似標(biāo)準(zhǔn)