ASTM C1432-03
測(cè)定钚中雜質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法:酸溶解、離子交換矩陣分離和感應(yīng)耦合等離子體-原子發(fā)射光譜法(ICP/AES)分析
Standard Test Method for Determination of Impurities in Plutonium: Acid Dissolution, Ion Exchange Matrix Separation, and Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectroscopic (ICP/AES) Analysis
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- ASTM C1432-03
- 發(fā)布
- 2003年
- 總頁(yè)數(shù)
- 5頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM C1432-03(2008)
- 當(dāng)前最新
- ASTM C1432-23
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM C1168 ASTM C757 ASTM C758 ASTM C759 ASTM D1193
- 適用范圍
- 1.1 本測(cè)試方法涵蓋钚（Pu）材料中25種元素的測(cè)定。將Pu溶解在酸中，通過(guò)離子交換分離將Pu基體與目標(biāo)雜質(zhì)分離，并通過(guò)電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法（ICP-AES）測(cè)定雜質(zhì)的濃度。 1.2本測(cè)試方法具體用于測(cè)定 8 M HNO3 溶液中的雜質(zhì)。其他钚材料中的雜質(zhì)，包括氧化钚樣品，如果適當(dāng)溶解（參見(jiàn)實(shí)踐 C 1168）并轉(zhuǎn)化為 8 M HNO3 溶液，則可以測(cè)定。
1.3 本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決所有安全問(wèn)題（如果有），與其使用相關(guān)。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐并確定監(jiān)管限制的適用性。
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