KS D ISO 9220:2009
金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法

Metallic coatings－Measurement of coating thickness－Scanning electron microscope method

被代替

KS D ISO 9220:2009 發(fā)布?xì)v史

KS D ISO 9220:2009由韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局 KR-KATS 發(fā)布于 2009-12-30，并于 2009-12-30 實(shí)施。

KS D ISO 9220:2009 在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: A29 材料防護(hù)。

KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法的最新版本是哪一版？

最新版本是 KS D ISO 9220-2022 。

KS D ISO 9220:2009的歷代版本如下：

• 2022年 KS D ISO 9220-2022 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
• 0000年 KS D ISO 9220-2009(2017)
• 2009年 KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
• 0000年 KS D ISO 9220:1999

本標(biāo)準(zhǔn)通過使用掃描電子顯微鏡（SEM）觀察金屬鍍層的橫截面來測(cè)量鍍層的局部厚度。

KS D ISO 9220:2009 是基于 ISO 9220 的發(fā)版本。

采用 ISO 9220 的發(fā)行版本有：

• DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法
• EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法(ISO 9220-1988)
• EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
• KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
• KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法
• KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法
• prEN ISO 9220:2021 金屬鍍層-鍍層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

KS D ISO 9220:2009

發(fā)布

2009年

發(fā)布單位

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局

替代標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 9220-2009(2017)

當(dāng)前最新

KS D ISO 9220-2022

 

 

被代替標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 9220:1999

專題

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