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KS D ISO 9220:2009
金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法

Metallic coatings－Measurement of coating thickness－Scanning electron microscope method

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號: KS D ISO 9220:2009
發(fā)布: 2009年
發(fā)布單位: 韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局
替代標(biāo)準(zhǔn): KS D ISO 9220-2009(2017)
當(dāng)前最新: KS D ISO 9220-2022

被代替標(biāo)準(zhǔn): KS D ISO 9220:1999

適用范圍: 本標(biāo)準(zhǔn)通過使用掃描電子顯微鏡（SEM）觀察金屬鍍層的橫截面來測量鍍層的局部厚度。

KS D ISO 9220:2009 中可能用到的儀器設(shè)備

掃描電鏡SEM

專題

掃描電子顯微鏡的制片方法涂層厚度電鏡電子顯微鏡金屬電鏡金層厚度顯微鏡掃描法掃描電子顯微鏡的測量方法掃描顯微鏡法涂層電子顯微鏡貴金屬電子顯微鏡掃描電鏡兩種方法掃描電鏡調(diào)整方法掃描電鏡一次電子

KS D ISO 9220:2009相似標(biāo)準(zhǔn)

ISO 9220:1988 金屬覆蓋層鍍層厚度測量掃描電子顯微鏡法 DANSK DS/EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量掃描電子顯微鏡法 UNI EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量掃描電子顯微鏡法 EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法(ISO 9220-1988) NS-EN ISO 9220:1994 金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:1988）

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