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區(qū)分單晶體與多晶體的方法

本專題涉及區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準有146條。

國際標準分類中，區(qū)分單晶體與多晶體的方法涉及到半導體材料、金屬材料試驗、光學和光學測量、半導體分立器件、分析化學、教育、珠寶、頻率控制和選擇用壓電器件與介質器件、醫(yī)療設備、有色金屬、建筑材料、輻射測量、電子元器件綜合、集成電路、微電子學。

在中國標準分類中，區(qū)分單晶體與多晶體的方法涉及到金屬物理性能試驗方法、半金屬與半導體材料綜合、電子技術專用材料、人工晶體、半導體分立器件綜合、電子元件綜合、教學專用儀器、其他非金屬礦、半導體三極管、醫(yī)用光學儀器設備與內窺鏡、教育、學位、學銜、半金屬及半導體材料分析方法、石英晶體、壓電元件、化合物半導體材料、、眼科與耳鼻咽喉科手術器械、其他日用品、稀有高熔點金屬及其合金、儀器、儀表用材料和元件、基礎標準與通用方法、元素半導體材料、半導體集成電路。


美國材料與試驗協(xié)會，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • ASTM F1723-02 單晶硅棒通過漂浮區(qū)晶體生長和光譜學方法進行多晶硅棒評估的標準實踐
  • ASTM F41-90 硅單晶浮區(qū)法生長及評價多晶硅鑄錠的方法
  • ASTM F1708-02 評價熔體 區(qū)技術下顆粒多晶硅的光譜分析法
  • ASTM F1723-96 用浮區(qū)晶體增長和光譜法評估多晶硅竿材的標準實施規(guī)范
  • ASTM F47-94 晶硅晶體缺陷檢測方法
  • ASTM F847-02 單晶硅片上平面晶體學取向的X射線測量方法
  • ASTM F416-94 硅晶圓表面區(qū)域氧化誘發(fā)晶體缺陷檢測的標準試驗方法
  • ASTM F26-87a(1999) 用于確定半導體單晶體取向的標準試驗方法

國家質檢總局，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

行業(yè)標準-電子，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

行業(yè)標準-教育，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • JY/T 0587-2020 多晶體X射線衍射方法通則
  • JY/T 009-1996 轉靶多晶體X射線衍身方法通則
  • JY/T 0588-2020 單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結構分析方法通則
  • JY/T 008-1996 四圓單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結構分析方法通則

韓國科技標準局，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

意大利統(tǒng)一標準化組織，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • UNI EN ISO 11979-10:2007 眼科植入物 晶體人工晶狀體 第10部分：患有晶狀體患者的晶體人工晶狀體

日本工業(yè)標準調查會，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

CEN - European Committee for Standardization，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • EN IEC 60122-4:2019 質量評估的石英晶體單元 第4部分：帶熱敏電阻的晶體單元

德國標準化學會，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • DIN EN IEC 60122-4:2019-10 質量評估的石英晶體單元 第4部分：帶熱敏電阻的晶體單元
  • DIN EN ISO 11979-9 A1 E:2013-06 眼科植入物 內眼晶體 第9部分：多焦點內眼晶體
  • DIN VDE 0556:1966 多晶半導體整流器法規(guī)
  • DIN EN 60444-9:2007-12 石英晶體單元參數(shù)的測量 第9部分：壓電晶體單元寄生諧振的測量
  • DIN EN 60444-8:2017-11 石英晶體單元參數(shù)的測量第8部分：表面貼裝石英晶體單元的測試夾具
  • DIN EN 60444-7:2004-11 石英晶體單元參數(shù)的測量-第7部分：石英晶體單元的活性和頻率驟降的測量
  • DIN EN 60122-4 E:2018 石英晶體單元的質量評估 第4部分：帶熱敏電阻的晶體單元 (IEC 49/1244/CD:2017) 草案
  • DIN EN 60444-8:2017 石英晶體單元參數(shù)的測量 第8部分：表面貼裝石英晶體單元的測試夾具（IEC 60444-8:2016）
  • DIN EN 60122-4:2018-01 草案 經評估質量的石英晶體單元 第4部分：帶熱敏電阻的晶體單元 (IEC 49/1244/CD:2017)

美國國防后勤局，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

行業(yè)標準-醫(yī)藥，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • YY 0290.9-2010 眼科光學 人工晶狀體 第9部分：多焦人工晶狀體

海灣阿拉伯國家合作委員會標準組織，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • GSO ISO 11979-9:2014 眼縫線 人工晶狀體 第9部分：多焦點人工晶狀體
  • GSO IEC 60444-7:2014 測量石英晶體單元晴雨表 第7部分：測量石英晶體單元的活動和頻率驟降

印度標準局，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • IS 4570-6-1999 晶體單元支架 第6部分：金屬、焊封、雙針晶體單元支架 CX 型
  • IS 4570-11-1999 晶體單元支架 第11部分：金屬、焊接、雙針晶體單元支架 DQ 型
  • IS 4570-8-1999 晶體單元支架 第8部分：金屬、焊接、三線晶體單元支架 DK 型
  • IS 4570-9-1999 晶體單元支架 第9部分：金屬、焊接、雙針晶體單元支架 DN 型
  • IS 4570-10-1999 晶體單元支架 第10部分：金屬、焊接、雙針晶體單元支架 DP 和 EH 型
  • IS/IEC 60444-9-2007 石英晶體單元參數(shù)測量 第9部分 壓電晶體單元雜散諧振的測量
  • IS 4570-12-1989 晶體單元支架：第12部分 微型、金屬、冷焊、雙線晶體單元支架 EB 型
  • IS 4570-7-1985 晶體單元支架：第7部分 微型、金屬、焊封、雙線晶體單元支架 DJ 型
  • IS 4570-13-4-1993 晶體單元支架 第13部分：自動處理石英晶體單元支架輪廓 第4節(jié)：金屬、密封、雙針晶體單元支架類型 CU 04
  • IS 4570-13-2-1993 晶體單元支架 第13部分：自動處理石英晶體單元支架輪廓 第2節(jié)：金屬、密封、雙針晶體單元支架類型 CU 02
  • IS 4570-4-1999 晶體單元支架 第4部分：金屬、焊封、雙針晶體單元支架 BC 型和 BC/1 型
  • IS 4570-13-5-1993 晶體單元支架 第13部分：自動處理石英晶體單元支架輪廓 第5節(jié)：金屬、密封、雙針晶體單元支架類型 CU 05
  • IS 4570-13-1-1993 晶體單元支架 第13部分：自動處理石英晶體單元支架輪廓 第1節(jié)：金屬、密封、雙針晶體單元支架類型 CU 01
  • IS 4570-13-3-1993 晶體單元支架 第13部分：自動處理石英晶體單元支架輪廓 第3節(jié)：金屬、密封、雙針晶體單元支架類型 CU 03
  • IS 4400-4-1981 半導體器件的測量方法：第4部分 晶體管
  • IS 4570-3-1984 晶體單元支架 第3部分：管型晶體單元支架（玻璃）類型 AP、AR、AS、AT 和 AU
  • IS 4570-2-1999 晶體單元支架 第2部分：金屬、焊接密封、雙針晶體單元支架 AA 型和 AB 型
  • IS 8271-2-5-1981 振蕩器中使用的石英晶體單元 第2部分：AA 系列 第5節(jié)：AA-05 型石英晶體單元
  • IS 8271-3-7-1982 振蕩器中使用的石英晶體單元 第3部分：BC 系列 第7節(jié)：BC-07 型石英晶體單元
  • IS 8271-2-1-1981 振蕩器中使用的石英晶體單元 第2部分：AA 系列 第1節(jié)：AA-01 型石英晶體單元
  • IS 8271-2-4-1981 振蕩器中使用的石英晶體單元 第2部分：AA 系列 第4節(jié)：AA-04 型石英晶體單元
  • IS 8271-2-2-1981 振蕩器中使用的石英晶體單元 第2部分：AA 系列 第2節(jié)：AA-02 型石英晶體單元

俄羅斯標準局，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • GOST 25734-1983 氧化鋁 非冶金氧化鋁中單晶尺寸的晶體光學測定方法

國際電工委員會，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • IEC 60122-4:2019 經質量評定的石英晶體單元第4部分:帶熱敏電阻的晶體單元
  • IEC 60122-2:1962 振蕩器用石英晶體單元 第2部分：石英振蕩器晶體使用指南
  • IEC 60122-3:1962 CSV 用于振蕩器的石英晶體單元 第四部分：標準輪廓 第五部分：引腳連接 第六部分：用于晶體濾波器的石英晶體單元的文章表

丹麥標準化協(xié)會，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • DS/EN 60444-9:2007 石英晶體單元參數(shù)的測量 第9部分：壓電晶體單元雜散諧振的測量
  • DANSK DS/EN 60444-9:2007 石英晶體單元參數(shù)的測量 第9部分：壓電晶體單元寄生諧振的測量
  • DANSK DS/EN ISO 11979-9/A1:2006 眼科植入物 人工晶狀體 第9部分：多焦點人工晶狀體
  • DANSK DS/EN ISO 11979-9:2006 眼科植入物 人工晶狀體 第9部分：多焦點人工晶狀體
  • DS/EN ISO 11979-9:2007 眼科植入物 人工晶狀體 第9部分：多焦點人工晶狀體
  • DANSK DS/EN 60444-7:2004 石英晶體單元參數(shù)的測量 第7部分：石英晶體單元的活性和頻率驟降的測量
  • DANSK DS/EN 60444-4:1997 通過π型網(wǎng)絡中的零相位技術測量石英晶體單元參數(shù) 第4部分：石英晶體單元負載諧振頻率fL、負載諧振電阻RL的測量方法以及石英晶體單元其他派生值的計算方法...

英國標準學會，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • BS EN ISO 11979-9:2006+A1:2014 眼科植入物 — 人工晶狀體 第9部分：多焦點人工晶狀體
  • BS EN 60444-2:1997 石英晶體單元參數(shù)的測量 相位偏移法測量石英晶體元件的動電容
  • 04/30123439 DC IEC 60444-9 ED 1 壓電晶體單元參數(shù)測量 第9部分:壓電晶體單元寄生諧振的測量

意大利電工委員會，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • CEI EN 60444-9:2009 石英晶體單元參數(shù)的測量 第9部分：壓電晶體單元寄生諧振的測量
  • CEI EN 60444-7:2005 石英晶體單元參數(shù)的測量 第7部分：石英晶體單元的活性和頻率驟降的測量
  • CEI EN 60444-8:2017 石英晶體單元參數(shù)測量 第8部分：表面貼裝石英晶體單元測試夾具

巴林國家計量局，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

阿曼規(guī)格和計量局，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

中國團體標準，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

IN-BIS，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 晶體單元支架——規(guī)范 第13部分自動處理的石英晶體單元支架概述 第3節(jié)：金屬、密封、兩針晶體單元支架類型 CU 03
  • IS 4570 Pt.8-1985 晶體單元支架規(guī)范 第8部分金屬、焊接、三線晶體單元支架 DK 型
  • IS 4570 Pt.11-1989 晶體單元支架規(guī)范 第11部分金屬、焊接、雙針晶體單元支架 DQ 型
  • IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 晶體單元支架——規(guī)范 第13部分自動處理的石英晶體單元支架概述 第2節(jié)：金屬、密封、兩針晶體單元支架類型 CU 02
  • IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 晶體單元支架——規(guī)范 第13部分自動處理的石英晶體單元支架概述 第1節(jié)：金屬、密封、兩針晶體單元支架類型 CU 01
  • IS 4570 Pt.12-1989 晶體單元支架規(guī)范 第12部分微型、金屬、冷焊、雙線晶體單元支架類型 EB
  • IS 4570 Pt.7-1985 晶體單元支架規(guī)范 第7部分微型、金屬、焊封、雙線晶體單元支架類型 DJ
  • IS 4570 Pt.6-1984 晶體單元支架規(guī)范 第6部分金屬、焊料密封、雙針晶體單元支架 CX 型
  • IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 晶體單元支架——規(guī)范 第13部分自動處理石英晶體單元支架概述 第5節(jié)：金屬、密封、兩針晶體單元支架類型 CU 05
  • IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 晶體單元支架——規(guī)范 第13部分自動處理石英晶體單元支架概述 第4節(jié)：金屬、密封、兩針晶體單元支架類型 CU 04
  • IS 4400 Pt.4-1981 半導體器件測量方法第 IV 部分晶體管

國際標準化組織，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

CZ-CSN，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

行業(yè)標準-有色金屬，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

美國電氣電子工程師學會，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

YU-JUS，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

行業(yè)標準-航空，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • HB 6742-1993 單晶葉片晶體取向的測定X射線背射勞厄照相法

立陶宛標準局，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • LST EN 60444-9-2007 石英晶體單元參數(shù)的測量 第9部分：壓電晶體單元寄生諧振的測量（IEC 60444-9:2007）
  • LST EN ISO 11979-9:2007 眼科植入物 人工晶狀體 第9部分：多焦點人工晶狀體（ISO 11979-9:2006）

德國電氣，電子和信息技術協(xié)會，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

(美國)軍事條例和規(guī)范，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 晶體振蕩器(XO):方波為50赫茲-50兆赫的晶體管晶體管邏輯系列(TTL)1型氣密封晶控振蕩器
  • ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 晶體振蕩器(XO):方波為0.01赫茲-50兆赫的晶體管晶體管邏輯半導體系列(TTL)1型氣密封晶控振蕩器

西班牙標準化協(xié)會，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

河北省標準，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

挪威標準，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

  • NS-EN ISO 11979-9:2006 眼科植入物 人工晶狀體 第9部分：多焦點人工晶狀體 (ISO 11979-9:2006)

CH-SNV，關于區(qū)分單晶體與多晶體的方法的標準

 

可能用到的儀器設備

 

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